特許
J-GLOBAL ID:200903086980003865
半導体装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小川 勝男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-212262
公開番号(公開出願番号):特開2000-049337
出願日: 1998年07月28日
公開日(公表日): 2000年02月18日
要約:
【要約】【課題】IGBTモジュールの損失を低減する。【解決手段】モジュールのリーク電流が増加する低電圧側の第一の電圧とこれより高電圧側でリーク電流が増加する第二の電圧を持ち、電源電圧をこれら二つの増加電圧の間に設定する。【効果】モジュールの損失が低減でき、これにより、インバータ装置の小型化が可能となる。
請求項(抜粋):
絶縁ゲートバイポーラトランジスタとダイオードが逆並列に接続される並列回路を有し、前記並列回路に阻止方向電圧を印加したとき、リーク電流が増加する第1の電圧値と、リーク電流が増加し前記第1の電圧値よりも大きな第2の電圧値を有することを特徴とする半導体装置。
IPC (4件):
H01L 29/78
, H01L 21/322
, H01L 21/336
, H01L 29/861
FI (5件):
H01L 29/78 655 A
, H01L 21/322 L
, H01L 29/78 657 A
, H01L 29/78 658 H
, H01L 29/91 J
引用特許:
審査官引用 (3件)
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半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-027860
出願人:株式会社日立製作所
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半導体装置およびその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-027626
出願人:富士電機株式会社
-
半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-304753
出願人:株式会社東芝
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