特許
J-GLOBAL ID:200903087164575008

テスト・プローブおよびコネクタ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 秋元 輝雄
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-584898
公開番号(公開出願番号):特表2003-533703
出願日: 2001年05月14日
公開日(公表日): 2003年11月11日
要約:
【要約】改良型のプローブ(78)は、コイルばね(84)を含む導電性管状ハウジング(80)または本体と、ハウジング(80)内で移動でき、ハウジング(80)の一方端から外方向に延在する接触チップ(85)を有する導電性プランジャ(82)とを含む。プランジャ(82)およびチップ(85)は、ばね(84)のバイアス力によって、通常は外側の位置に押しやられる。ハウジングの反対側の端部は、コネクタの導電性ピンと対合する開口を有する。コネクタ(96、97)は、関連する器具(40)の装着板(52)内に保持され、所望の形状の端子端部を有する。端子端部は、ワイヤラップ・ピン、ワイヤ(110)を取り付けるかしめタイプの端子(113)を含むか、端子が、関連する電気接点と係合するため、ばねを装填したピン(84)を含むことができる。プローブとコネクタの間に気密シール(170)を設けることができ、真空が関連のテスト器具(40)に与えられても、空気が器具またはプローブの本体を通って吸い込まれないよう、コネクタを台に装着することができる。
請求項(抜粋):
ソケットなしの器具に使用し、電気回路のテスト中にそれとの電気接触を提供するのに適切なプローブで、 導電性の管状ハウジングと、 前記導電性管状ハウジング内に、それと導電接触して固定配置され、回路と接触する導電性プランジャとを備え、前記プランジャが、縦方向に圧縮されたコイルばねの力で、ハウジングから押し上げられた回路接触チップを有し、 前記管状ハウジングが第1端部分を有し、それを通ってプランジャがチップまで延在し、それによってプランジャがハウジング内に保持され、さらにコネクタの一部を形成してプローブとの導電接続を提供する導電性コネクタ・ピンを受け、保持するようなサイズの開口を画定する第2端部を有するプローブ。
Fターム (7件):
2G011AA16 ,  2G011AB01 ,  2G011AB03 ,  2G011AC06 ,  2G011AC14 ,  2G011AE01 ,  2G011AF07
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • プローブ針
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-117845   出願人:株式会社アイシーティ
  • 導電性接触子
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-212601   出願人:日本発条株式会社
  • 極小垂直プローブ・ピン・モジュール
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-229376   出願人:株式会社ダウ・イー・ジャパン

前のページに戻る