特許
J-GLOBAL ID:200903087395886006
信号処理装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
工藤 実 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-233627
公開番号(公開出願番号):特開2000-055889
出願日: 1998年08月05日
公開日(公表日): 2000年02月25日
要約:
【要約】【課題】 検出対象成分と、減衰すべき雑音成分とが有する空間周波数スペクトルの違いに着目し、検出精度の高い信号処理装置を提供する。【解決手段】 本発明の信号処理装置1は、第1の座標系における観測信号2を、第2の座標系に写像して、2次元補間信号4を出力する為の2次元補間処理部3と、ここで、観測信号2は、検出対象成分と、減衰対象である雑音成分から成り、更に雑音成分は、第1の雑音成分と第2の雑音成分から成り、2次元補間信号4に応答して、第1の雑音成分を減衰する事により検出対象成分を強調し、2次元フィルタリング信号6を出力する為の2次元強調/減衰処理部5と、2次元フィルタリング信号6に応答して、2次元フィルタリング信号6に含まれる第2の雑音成分を減衰して、2次元平滑化信号8を出力する為の2次元平滑化処理部7とから成る事を特徴とする。
請求項(抜粋):
第1の座標系における観測信号を、第2の座標系に写像して、2次元補間信号を出力する為の2次元補間処理部と、ここで、前記観測信号は、検出対象成分と、減衰対象である雑音成分から成り、更に前記雑音成分は、第1の雑音成分と第2の雑音成分から成り、前記2次元補間信号に応答して、前記第1の雑音成分を減衰する事により前記検出対象成分を強調し、2次元フィルタリング信号を出力する為の2次元強調/減衰処理部と、前記2次元フィルタリング信号に応答して、前記2次元フィルタリング信号に含まれる前記第2の雑音成分を減衰して、2次元平滑化信号を出力する為の2次元平滑化処理部とから成る事を特徴とする信号処理装置。
IPC (3件):
G01N 27/90
, G21C 17/003
, G21C 17/00
FI (3件):
G01N 27/90
, G21C 17/00 E
, G21C 17/00 L
Fターム (17件):
2G053AA11
, 2G053AB21
, 2G053BA10
, 2G053BA12
, 2G053BA26
, 2G053CB07
, 2G053CB12
, 2G053CB13
, 2G053CB24
, 2G053CB29
, 2G075AA01
, 2G075CA13
, 2G075DA16
, 2G075EA03
, 2G075FA16
, 2G075FB04
, 2G075GA21
引用特許:
出願人引用 (6件)
-
2次元信号フィルタリング装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-295605
出願人:三菱重工業株式会社
-
磁気光学欠陥検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-196473
出願人:新日本製鐵株式会社
-
部品を検査する方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-244462
出願人:ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
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