特許
J-GLOBAL ID：200903087502416310
一次元標定のAE源を利用した構造物の損傷判定方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (2件)：
清水 守
, 川合 誠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-233844
公開番号（公開出願番号）：特開2007-047094
出願日： 2005年08月12日
公開日（公表日）： 2007年02月22日
要約：
【課題】構成が簡素化され、実用性の高い簡易な判定を実施することができる一次元標定のAE源を利用した構造物の損傷判定方法および装置を提供する。【解決手段】一次元標定のAE源を利用した構造物の損傷判定方法において、交通荷重がかかる一次元的な部材に直線状に複数のAEセンサを一次元的に配列し、この一次元配列の各AEセンサのAE信号到達時間差を利用して簡易な処理装置により一次元AE位置標定を行い、前記一次元的な部材の損傷判定を行う。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
(a)交通荷重がかかる桁又は橋脚のような一次元的な部材に直線状に複数のAEセンサを一次元的に配列し、
(b)該一次元配列の各AEセンサのAE信号到達時間差を利用して簡易な処理装置により一次元AE位置標定を行い、前記一次元的な部材の損傷判定を行うことを特徴とする一次元標定のAE源を利用した構造物の損傷判定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (7件)：
2G047AA05
, 2G047BA05
, 2G047BC02
, 2G047BC07
, 2G047GA13
, 2G047GG30
, 2G047GG47
