特許
J-GLOBAL ID:200903088983702333
物理情報取得方法および物理情報取得装置並びに半導体装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
船橋 國則
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-133412
公開番号(公開出願番号):特開2007-053731
出願日: 2006年05月12日
公開日(公表日): 2007年03月01日
要約:
【課題】撮像装置において、赤外光フィルタを用いなくても、赤外光などの不要波長領域成分の影響を排除できるようにする。【解決手段】フィルタC1,C2,C3を通して可視光領域内を波長分離して各検知部で検知するとともに、フィルタC4を通して赤外光領域を波長分離して検知部で検知する。フィルタC1,C2,C3を通して検知される信号SC1,SC2,SC3を、フィルタC4を通して検知される信号SC4を使って補正することで、赤外光領域成分の影響を排除した可視光領域成分に関わる撮像信号を取得する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
電磁波を検知する検知部と、前記検知部で検知された電磁波量に基づいて対応する単位信号を生成して出力する単位信号生成部を単位構成要素内に含み、当該単位構成要素が所定の順に同一基板上に配された物理量分布検知のための装置を使用して、前記単位信号に基づいて所定目的用の物理情報を取得する物理情報取得方法であって、
第1の波長領域の成分について当該第1の波長領域の成分とは異なる第2の波長領域の成分と予め分離して第1の前記検知部で検知するととともに、少なくとも前記第2の波長領域の成分を含む補正用の波長領域の成分を第2の前記検知部で検知し、
前記第1の検知部で検知された単位信号を、前記第2の検知部で検知された単位信号を使って補正することにより、前記第2の波長領域の成分の影響を排除した前記第1の波長領域の成分に関わる物理情報を取得する
ことを特徴とする物理情報取得方法。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (20件):
2H083AA02
, 2H083AA04
, 2H083AA26
, 2H083AA27
, 2H083AA32
, 5C065AA01
, 5C065AA03
, 5C065AA06
, 5C065BB30
, 5C065BB31
, 5C065CC01
, 5C065DD17
, 5C065EE05
, 5C065EE06
, 5C065EE10
, 5C065GG02
, 5C065GG21
, 5C065GG22
, 5C065GG23
, 5C065GG24
引用特許:
出願人引用 (13件)
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審査官引用 (3件)
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カラー撮像素子およびカラー信号処理回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-425708
出願人:三洋電機株式会社
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撮像装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-332943
出願人:株式会社豊田中央研究所
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固体撮像素子
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-318081
出願人:ソニー株式会社
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