特許
J-GLOBAL ID：200903089241113651

近赤外分光分析システム

発明者：
東山 尚光

東山 尚光 について


出願人/特許権者：
横河電機株式会社

横河電機株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-168035
公開番号（公開出願番号）：特開2000-356590
出願日： 1999年06月15日
公開日（公表日）： 2000年12月26日
要約：
【要約】【課題】 NIR出力の信頼性の向上とデータマージまでの時間短縮を図り、手分析による工数を削減した近赤外分光分析システムを提供する。【解決手段】 被測定液のスペクトルとそれに含まれる成分値を連続して測定する近赤外分光分析計と、前記成分値を一定時間毎に測定するプロセスガスクロマトグフと、これら両分析計の出力を入力して検量線を作成する検量線作成手段からなり、前記検量線をプロセスガスクロマトグラフの出力に応じて更新するようにした。
請求項（抜粋）：
被測定液のスペクトルとそれに含まれる成分値を連続して測定する赤外分光分析計と、前記成分値を一定時間毎に測定するプロセスガスクロマトグフと、これら両分析計の出力を入力して検量線を作成する検量線作成手段からなり、前記検量線をプロセスガスクロマトグラフの出力に応じて更新するようにしたことを特徴とする近赤外分光分析システム。
IPC (5件)：
G01N 21/27 ,  G01N 21/35 ,  G01N 30/04 ,  G01N 30/74 ,  G01N 30/86
FI (5件)：
G01N 21/27 F ,  G01N 21/35 Z ,  G01N 30/04 P ,  G01N 30/74 E ,  G01N 30/86 J
Fターム (6件)：
2G059AA01 ,  2G059EE12 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ01 ,  2G059MM12 ,  2G059PP04
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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