自動分析装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：杉村興作
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-177982
公開番号（公開出願番号）：特開2004-020457
出願日： 2002年06月19日
公開日（公表日）： 2004年01月22日
要約：

【課題】サンプル及び/又は試薬を余分に使用することなく、最終分析結果の迅速な報告を可能にする自動分析装置を提供する。【解決手段】サンプルラック21の先頭から3番目のサンプルについて5種類のテストを行うように受け付けられていたが、3番目のテストでサンプル不足のエラーが発生すると、そのテストについては「検査中/異常」の分析状態フラグが立てられ、それ以前のテストについては、「検査中/正常」の分析状態フラグが立てられる。それ以降の同サンプル中の残りのテストについては、「未検査」の分析状態フラグが立てられる。3番目のサンプルに対して必要かつ十分な量が供給され、サンプルラック21をラックセットレーン22にセットしなおして分析を行うと、直ちに「検査中/異常」又は「未検査」の分析状態フラグが立てられたサンプルのみについて分析が行われる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

各サンプルに対して複数のテストを連続的に行うことによってサンプルを自動的に分析する自動分析装置であって、前記サンプルのテストを、所定のエラーの発生に応じて中断する手段と、前記所定のエラーの原因が解消された後、前記所定のエラーの発生が原因で中断されたサンプルのテスト及び中断後に行うべきテストを行う手段とを具えることを特徴とする自動分析装置。

IPC (2件)：

G01N35/02 , G01N35/00

FI (3件)：

G01N35/02 J , G01N35/02 G , G01N35/00 A

Fターム (7件)：

2G058AA08 , 2G058CB15 , 2G058CD04 , 2G058CE08 , 2G058GC05 , 2G058GC06 , 2G058GE01

引用特許：

審査官引用 (6件)

検体処理システム
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-255700 出願人：株式会社日立製作所
自動分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-108937 出願人：株式会社島津製作所
特開平3-048769

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