特許
J-GLOBAL ID：200903090150095055

光ディスク装置および光ディスク装置の検査方法

発明者：
安藤 潤一

安藤 潤一 について


出願人/特許権者：
ミツミ電機株式会社

ミツミ電機株式会社 について


代理人 (1件)： 朝比 一夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-283072
公開番号（公開出願番号）：特開平11-110923
出願日： 1997年09月30日
公開日（公表日）： 1999年04月23日
要約：
【要約】【課題】容易にATIPエラーを計数することができる光ディスク装置およびその光ディスク装置を用いた光ディスク装置の検査方法を提供する。【解決手段】光ディスク装置1は、光ディスク(CD-R)2を記録・再生するCD-Rドライブ装置である。この光ディスク装置1では、制御手段13に内蔵されているカウンター131により、ATIPエラーを計数し、その計数値をメモリー26に記憶する。
請求項（抜粋）：
光ディスクを装着して回転させる回転駆動機構と、光学ヘッドと、前記光学ヘッドにより前記光ディスクから読み出した信号を処理する信号処理手段と、少なくとも前記回転駆動機構、光学ヘッドおよび信号処理手段の駆動を制御する制御手段とを有し、前記光ディスクに記録・再生する光ディスク装置であって、ATIPエラーを検出する検出手段と、検出されたATIPエラーを計数する計数手段とを内蔵することを特徴とする光ディスク装置。
IPC (6件)：
G11B 20/18 501 ,  G11B 20/18 ,  G11B 20/18 550 ,  G11B 20/18 572 ,  G11B 20/18 574 ,  G11B 7/00
FI (7件)：
G11B 20/18 501 B ,  G11B 20/18 501 F ,  G11B 20/18 550 C ,  G11B 20/18 572 C ,  G11B 20/18 572 F ,  G11B 20/18 574 H ,  G11B 7/00 H
引用特許：
審査官引用 (5件)
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