特許
J-GLOBAL ID：200903090404220815

光断層画像化装置

発明者：
小林 幸治

小林 幸治 について


出願人/特許権者：
興和株式会社

興和株式会社 について


代理人 (1件)： 加藤 卓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-157304
公開番号（公開出願番号）：特開2008-309613
出願日： 2007年06月14日
公開日（公表日）： 2008年12月25日
要約：
【課題】観察対象物体の断層像を、高速にかつ高い解像力、諧調性、コントラストを持って観察できる光断層画像化装置を提供する。【解決手段】低干渉性の光ビーム(1、2)が探索光として観察対象物体(25)に照射され、ガルバノミラー(16a)で所定の周波数で1次元走査される。この探索光(9c)と参照光(9b)はビームスプリッター(10)で干渉光(9d)として合成され、ガルバノミラー(16a)で上記走査と同一の走査周波数および同一の走査方向に再走査される。再走査された干渉光は、その走査周波数に応じたフレームレートで2次元撮像手段(32)により検出され、その映像信号から干渉情報が抽出されて対象物体内部の反射強度情報が取得される。このような構成では、2次元撮像手段を採用し、そのフレームレートに応じた低速の走査手段と低速な再走査手段で干渉情報が得られるので、走査型光学系を簡単に構成することができる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
光源からの光ビームを走査して観察対象物体の所定部位に照射し、該対象物体からの反射光を光学的な干渉現象を利用して検出処理することにより対象物体の断層画像情報を取得する光断層画像化装置において、 低干渉性の光ビームを発生する光源と、 前記光源からの光ビームを対象物体へ向かう探索光と、所定の参照光路へ向かう参照光とに分割するための光分割部材と、 前記探索光の光ビームを所定の周波数で1次元走査するための光走査手段と、 前記対象物体を介した探索光と前記参照光路を介した参照光との間で合成される干渉光を、前記光走査手段と同一の走査周波数および同一の走査方向に走査するための再走査手段と、 前記再走査手段を介した干渉光を、前記光走査手段および再走査手段の走査周波数に応じたフレームレートで検出するための2次元撮像手段と、 前記2次元撮像手段から出力される映像信号から対象物体内部の反射強度情報を取得する信号処理手段と、 を備えたことを特徴とする光断層画像化装置。
IPC (1件)：
G01N 21/17
FI (1件)：
G01N21/17 620
Fターム (18件)：
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059FF02 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04
引用特許：
出願人引用 (11件)
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