特許
J-GLOBAL ID：200903090643504213

過渡吸収測定装置

発明者：
山中 健一

山中 健一 について


出願人/特許権者：
株式会社豊田中央研究所

株式会社豊田中央研究所 について


代理人 (2件)： 吉田 研二 ,  石田 純
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-029217
公開番号（公開出願番号）：特開2007-212145
出願日： 2006年02月07日
公開日（公表日）： 2007年08月23日
要約：
【課題】紫外領域から近赤外領域まで幅広い領域において、高い測定精度かつ高い時間分解能で過渡吸収測定が可能である過渡吸収測定装置を提供する。【解決手段】物質の過渡吸収を測定する過渡吸収測定装置において、プローブ光源として定常光を、光検出手段としてアバランシェフォトダイオードを使用することにより、紫外領域から近赤外領域まで幅広い領域において高い測定精度かつ高い時間分解能で過渡吸収測定が可能である。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
物質の過渡吸収を測定する過渡吸収測定装置であって、 物質を励起する励起光を発する励起光源と、 前記励起光により励起された物質を含む試料に向けて定常光であるプローブ光を発するプローブ光源と、 前記試料を透過した透過プローブ光を分光し出力光として出力する分光手段と、 前記出力光を検出する光検出手段と、 を有し、 前記光検出手段はアバランシェフォトダイオードを有することを特徴とする過渡吸収測定装置。
IPC (1件)：
G01N 21/27
FI (1件)：
G01N21/27 Z
Fターム (18件)：
2G059AA05 ,  2G059BB04 ,  2G059CC12 ,  2G059DD03 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059FF04 ,  2G059GG01 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ23 ,  2G059KK03
引用特許：
審査官引用 (20件)
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