特許
J-GLOBAL ID：200903090942882887
単一のTAP(テストアクセスポート)を介して複数のTAPにアクセスするための方法およびその装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
桑垣 衛
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-509766
公開番号（公開出願番号）：特表2005-527918
出願日： 2003年05月09日
公開日（公表日）： 2005年09月15日
要約：
一実施形態において、1つまたは2つ以上の再使用可能なモジュール(14,16)を使用している集積回路(10)は、複製の状態マシン(26,28)または無修正の状態マシン(20,22)によって生成された符号を使用して、集積回路のリソースを選択し、制御し、またはそれ以外の方法で影響を及ぼし得る。リソースに影響を及ぼすことは、元の設計および無修正の状態マシン(20,22)の状態図の一部ではない。一実施形態において、再使用可能なモジュール(14,16)におけるコントローラの状態マシン(20,22)を修正することなく、複数のテスト回路をIC(10)の再使用可能なモジュール(14,16)に動的に再構成する方法および装置が提供される。
請求項（抜粋）：
集積回路であって、
複数の集積回路端子と、
それぞれが無修正の状態マシンを有する複数の再使用可能なモジュールと、
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (14件)：
2G132AA01
, 2G132AA15
, 2G132AB01
, 2G132AC15
, 2G132AG11
, 2G132AK14
, 2G132AK23
, 2G132AL05
, 5B022AA07
, 5B022CA02
, 5B022CA07
, 5B022DA02
, 5B022DA06
, 5B022FA10
