特許
J-GLOBAL ID:200903091238036195

水素センサの劣化検知システム、劣化検知方法及び水素濃度測定手段の劣化検知システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (7件): 三好 秀和 ,  岩▲崎▼ 幸邦 ,  栗原 彰 ,  川又 澄雄 ,  伊藤 正和 ,  高橋 俊一 ,  高松 俊雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-309873
公開番号(公開出願番号):特開2006-153857
出願日: 2005年10月25日
公開日(公表日): 2006年06月15日
要約:
【課題】水素センサ4の劣化量を精度良く求める劣化検知システム及び劣化検知方法を提供する。【解決手段】水素センサの劣化検知システムは、水素センサ4が測定した水素の測定濃度と測定時間の履歴、及び所定時間当りの水素センサ4の暴露量と劣化量との相関関係を記憶する記憶装置2と、測定濃度と測定時間の履歴から測定に使用された水素センサ4の所定時間当りの暴露量を求め、暴露量と劣化量との相関関係から劣化量を求める制御装置3とを備える。【選択図】図1
請求項(抜粋):
水素センサが測定した水素の測定濃度と測定時間の履歴、及び所定時間当りの前記水素センサの暴露量と劣化量との相関関係を記憶する記憶装置と、 前記測定濃度と前記測定時間の履歴から前記測定に使用された水素センサの所定時間当りの暴露量を求め、該暴露量と前記相関関係から前記測定に使用された水素センサの劣化量を求める制御装置と を備えた水素センサの劣化検知システム。
IPC (4件):
G01N 27/26 ,  H01M 8/04 ,  B60H 1/22 ,  B60H 1/24
FI (5件):
G01N27/26 361D ,  H01M8/04 Z ,  G01N27/26 391 ,  B60H1/22 671 ,  B60H1/24 661A
Fターム (3件):
5H027AA02 ,  5H027KK31 ,  5H027MM00
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (6件)
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