特許
J-GLOBAL ID:200903091663587510

形状測定システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 吉田 研二 ,  石田 純
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-031663
公開番号(公開出願番号):特開2005-221452
出願日: 2004年02月09日
公開日(公表日): 2005年08月18日
要約:
【課題】プロジェクタとカメラを用いた3次元形状測定システムにおいて、高温環境下における測定精度を確保する。【解決手段】プロジェクタ10からパターン光を被測定物に投射し、CCDカメラ12でパターン像を得る。パターン像は演算処理装置16に供給され、演算処理装置16はプロジェクタ10とCCDカメラ12の光軸交差角度αを用いて被測定物の3次元形状を算出する。プロジェクタ10とCCDカメラ12を固定するフレーム11に歪みゲージ14を設けて熱的歪み量を検出し、予め用意されたテーブルを用いて歪み量に対応する角度変化量を算出して角度αを補正する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
被測定物にパターン光を投射する投射手段と、 前記投射手段に対してフレームを介して相対配置され、前記パターン光の投射された被測定物を撮影する撮影手段と、 被測定物の撮影画像内におけるパターン像に基づき前記被測定物の形状を演算する演算手段と、 前記フレームに設けられ、前記フレームの熱的歪み量を検出する歪み検出手段と、 を有し、前記演算手段は、前記熱的歪み量に応じて前記被測定物の形状を補正することを特徴とする形状測定システム。
IPC (2件):
G01B11/25 ,  G01B21/32
FI (2件):
G01B11/24 E ,  G01B21/32
Fターム (28件):
2F065AA37 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD11 ,  2F065EE01 ,  2F065FF01 ,  2F065FF07 ,  2F065FF09 ,  2F065GG08 ,  2F065HH06 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ26 ,  2F065KK03 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ25 ,  2F065RR08 ,  2F065UU05 ,  2F069AA68 ,  2F069BB40 ,  2F069CC02 ,  2F069DD08 ,  2F069EE02 ,  2F069EE22 ,  2F069GG01 ,  2F069GG66 ,  2F069KK08
引用特許:
出願人引用 (3件)

前のページに戻る