特許
J-GLOBAL ID：200903091749928841

基板検査用ウィンドウの設定条件の決定方法、基板検査方法、基板検査用の検査データ作成方法、および基板検査装置

発明者：
村上 清

村上 清 について

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石羽 正人

石羽 正人 について

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栗山 淳

栗山 淳 について

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四ッ谷 輝久

四ッ谷 輝久 について


出願人/特許権者：
オムロン株式会社

オムロン株式会社 について


代理人 (1件)： 鈴木 由充
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-203886
公開番号（公開出願番号）：特開2006-058284
出願日： 2005年07月13日
公開日（公表日）： 2006年03月02日
要約：
【課題】 基板検査用のウィンドウの設定条件を簡単に決定できるようにする。【解決手段】 部品検査機1は、部品実装後基板のモデルを撮像するとともに、前工程の検査機であるはんだ印刷検査機3から同一基板の画像の提供を受ける。そして、これらの画像間の差分演算や差画像の2値化処理により、基板上の各部品を抽出した後、各種部品の標準検査データが登録された部品ライブラリを抽出した部品の大きさにより照合することにより、各部品を特定する。また抽出された部品に応じて部品ウィンドウの設定条件を決定し、その設定条件を部品の特定情報とともに登録する。そして、検査の際には、登録された設定条件に基づき検査対象の部品実装画像上に部品ウィンドウを設定し、そのウィンドウ内の画像データと部品特定情報に対応する標準検査データとを用いて部品の実装状態を検査する。【選択図】 図13
請求項（抜粋）：
製作中または製作終了後の基板を検査するために、前記基板を撮像して得られた画像上に設定する検査用のウィンドウの設定条件を決定する方法において、 部品実装基板の製作のために実行される複数の工程のうちの所定の工程を実行した後に、その工程の実行対象とした基板を撮像し、生成された画像を取得する第1ステップと、 前記第1ステップで撮像対象となった基板を、前記所定の工程の次の工程が実行された後に再度撮像し、生成された画像を取得する第2ステップと、 前記第1ステップおよび第2ステップで取得した2つの画像間における差異を抽出し、その抽出結果を用いて所定の部位を検査するためのウィンドウの設定条件を決定する第3ステップとを、実行することを特徴とする基板検査用ウィンドウの設定条件の決定方法。
IPC (5件)：
G01N 21/956 ,  G06T 1/00 ,  G06T 5/50 ,  H05K 3/00 ,  H05K 3/34
FI (5件)：
G01N21/956 B ,  G06T1/00 305B ,  G06T5/50 ,  H05K3/00 Q ,  H05K3/34 512B
Fターム (32件)：
2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051AC01 ,  2G051AC21 ,  2G051CA04 ,  2G051DA05 ,  2G051EA08 ,  2G051EA11 ,  2G051EA25 ,  2G051ED03 ,  2G051ED11 ,  5B057AA03 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB06 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC03 ,  5B057DA03 ,  5B057DA08 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC32 ,  5B057DC36 ,  5E319AC01 ,  5E319BB05 ,  5E319CC33 ,  5E319CD29 ,  5E319CD53 ,  5E319GG15
引用特許：
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (10件)
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