特許
J-GLOBAL ID：200903091831540967

改良校正及び通信プロセスを有するアナライト検査器具

発明者：
デウイース,マーシヤル・デイー

デウイース,マーシヤル・デイー について

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カラヤノポウロス,レオニダス

カラヤノポウロス,レオニダス について

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パークス,ジヨエル・エム

パークス,ジヨエル・エム について

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エイムズ,ウイリアム・エイチ

エイムズ,ウイリアム・エイチ について


出願人/特許権者：
アボット・ラボラトリーズ

アボット・ラボラトリーズ について


代理人 (1件)： 川口 義雄 (外4名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-585657
公開番号（公開出願番号）：特表2002-531827
出願日： 1999年11月17日
公開日（公表日）： 2002年09月24日
要約：
【要約】改良された校正及び通信プロセスを有するアナライト検査器具。前記器具は、複数のデータ蓄積ストリップのいずれかの1つとも通信することができる校正方法を使用する。メモリデバイスを含めたデータ蓄積ストリップを器具の検査ポートに挿入する。データ蓄積ストリップを識別し、器具により、データ蓄積ストリップに対応するプロトコルを用いてデータ蓄積ストリップとの通信が確立される。第2に、この器具は、該器具を正当な校正ストリップ及び検査ストリップを用いて確実に動作するための方法を用いる。前記器具は、該器具に蓄積された検査パラメータの1つ以上が該器具の検査ポートに挿入した検査ストリップにとって不当かどうかを決める。検査パラメータが不当ならば、ストリップパラメータが不当である旨をデイスプレー上に表示する。最後に、前記器具は、該器具に現在の日時を設定する前に起こった事象の実際の日時を決定する方法を用いる。
請求項（抜粋）：
複数のデータ蓄積ストリップのいずれかの1つを受容するのに適した検査ポート、前記検査ポートに電気的に接続しているプロセッサ、及び各データ蓄積ストリップとの通信用プロトコルを蓄積しているメモリを有するアナライト検査器具を校正する方法であって、(a)前記データ蓄積ストリップを検査ポートに受容させるステップ、(b)前記検査ポートをポーリングして、データ蓄積ストリップを識別するステップ、及び(c)前記データ蓄積ストリップに対応するプロトコルを用いて前記データ蓄積ストリップとの通信を確立するステップを含むことを特徴とする前記方法。
IPC (4件)：
G01N 27/416 ,  G01N 27/26 371 ,  G01N 27/28 ,  G01N 33/483
FI (6件)：
G01N 27/26 371 A ,  G01N 27/28 R ,  G01N 33/483 F ,  G01N 27/46 336 C ,  G01N 27/46 338 ,  G01N 27/46 336 Z
Fターム (9件)：
2G045AA25 ,  2G045CA25 ,  2G045CA26 ,  2G045DA31 ,  2G045FB05 ,  2G045FB17 ,  2G045JA02 ,  2G045JA04 ,  2G045JA20
引用特許：
審査官引用 (4件)
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