特許
J-GLOBAL ID：200903092036707604

位置姿勢計測方法及び装置

発明者：
佐藤 清秀

佐藤 清秀 について

, 
内山 晋二

内山 晋二 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (4件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-029828
公開番号（公開出願番号）：特開2006-215924
出願日： 2005年02月04日
公開日（公表日）： 2006年08月17日
要約：
【課題】 安定性と精度とが両立した位置及び姿勢の計測を行うことの可能な位置姿勢測定装置を提供すること。【解決手段】 センサ計測値として得られた位置姿勢計測値を、指標の既知座標を用いて算出される画像座標の推定値(理論値)と、当該指標を撮像した画像中で検出された画像座標の実測値との誤差が最小となるような補正値を求め(S4040)、この補正値によって補正する(S4050)。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
計測対象物体としての撮像装置の位置及び姿勢を計測する位置姿勢計測方法であって、 前記計測対象物体の位置及び姿勢を計測する位置姿勢センサの位置姿勢計測値を入力する位置姿勢計測値入力工程と、 前記撮像装置が撮像した撮像画像を入力する画像入力工程と、 前記撮像画像から、指標の画像座標に関わる特徴量を検出する指標検出工程と、 前記位置姿勢計測値から求められる前記計測対象物体の位置及び姿勢を表す複数のパラメータの所定の一部について、前記指標検出工程で検出される前記指標の画像座標に関わる特徴量と、前記複数のパラメータを用いて算出される当該特徴量の推定値との誤差に応じた補正を行う補正工程とを有し、 前記補正されたパラメータを含む前記複数のパラメータを、前記計測対象物体の位置及び姿勢計測結果とすることを特徴とする位置姿勢計測方法。
IPC (3件)：
G06T 1/00 ,  G01B 11/00 ,  G06T 7/60
FI (4件)：
G06T1/00 315 ,  G01B11/00 H ,  G06T7/60 150B ,  G06T7/60 150P
Fターム (38件)：
2F065AA04 ,  2F065AA37 ,  2F065BB05 ,  2F065BB27 ,  2F065CC21 ,  2F065EE00 ,  2F065FF04 ,  2F065FF41 ,  2F065FF65 ,  2F065FF67 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065PP05 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ39 ,  5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057BA29 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC04 ,  5B057DC05 ,  5B057DC08 ,  5B057DC25 ,  5L096CA02 ,  5L096FA02 ,  5L096FA59 ,  5L096FA66 ,  5L096FA69 ,  5L096FA76
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (2件)
引用文献：
審査官引用 (1件)

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