特許
J-GLOBAL ID：200903092101609984

スキャンテスト回路及びスキャンテスト回路を含む半導体集積回路及びスキャンテスト回路を搭載した半導体集積回路試験用基板

発明者：
小林 宗徳

小林 宗徳 について


出願人/特許権者：
日本電気株式会社

日本電気株式会社 について


代理人 (1件)： 高橋 詔男 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-017641
公開番号（公開出願番号）：特開2000-214226
出願日： 1999年01月26日
公開日（公表日）： 2000年08月04日
要約：
【要約】【課題】 半導体集積回路試験装置のスキャンピン数に制約されない、様々なピン数に対応することが可能なスキャンテスト回路及びスキャンテスト回路を含む半導体集積回路及びスキャンテスト回路を搭載した半導体集積回路試験用基板を提供すること。【解決手段】 被検対象のLSIのチップ内部のスキャンチェーンの本数をn、LSI外部から与えられるスキャン入力の本数をm、LSI外部に出力するスキャン出力の本数をpとした時に、m→nとビット数変換を行うスキャン入力変換回路と、n→pとビット数変換を行うスキャン出力変換回路とを備える。
請求項（抜粋）：
半導体集積回路内部の回路を試験するために該回路内の保持回路をシリアルに接続してなる複数のスキャンパスと、該スキャンパスに試験データを与える入力部および上記スキャンパスからのデータを出力する出力部との間に設けられて、上記入力部から入力される信号を、その本数とそのタイミングとを変換して上記スキャンパスに入力するスキャン入力変換回路と、上記スキャンパスから出力される信号を、その本数とそのタイミングとを変換して上記出力部に出力するスキャン出力変換回路とを備えてなるスキャンテスト回路。
IPC (2件)：
G01R 31/28 ,  G06F 11/22 360
FI (2件)：
G01R 31/28 G ,  G06F 11/22 360 P
Fターム (13件)：
2G032AA01 ,  2G032AC10 ,  2G032AG07 ,  2G032AH01 ,  2G032AK03 ,  2G032AK11 ,  2G032AK15 ,  2G032AK16 ,  2G032AL03 ,  5B048AA20 ,  5B048CC18 ,  5B048DD05 ,  5B048DD10
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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