特許

J-GLOBAL ID：200903092374822869

第二相粒子を有する微細複相材料組織の映像化観察方法

発明者： 小野 嘉則 ,  早川 正夫 ,  松岡 三郎 ,  古谷 佳之 ,  木村 恵
出願人/特許権者： 独立行政法人物質・材料研究機構
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-219684
公開番号（公開出願番号）：特開2005-062173
出願日： 2004年07月28日
公開日（公表日）： 2005年03月10日
要約：

【課題】第二相粒子の影響を受けることなく、試料を薄膜化せずにバルクの状態で、第二相粒子を有する微細複相材料の組織を映像化する。【解決手段】表面高低差50nm以下の表面として、SEMまたはEBSP計測により映像化観察可能とする。【選択図】なし

請求項（抜粋）：

第二相粒子を有する微細複相材料において、表面高低差50nm以下の表面として、走査型電子顕微鏡(SEM)または背面電子散乱パターン(EBSP)計測により組織を映像化観察可能とすることを特徴とする第二相粒子を有する微細複相材料組織の映像化観察方法。

IPC (4件)：

G01N23/225 ,  G01N1/28 ,  G01N1/32 ,  G01N23/203

FI (4件)：

G01N23/225 ,  G01N1/32 A ,  G01N23/203 ,  G01N1/28 F

Fターム (19件)：

2G001AA03 ,  2G001BA07 ,  2G001BA15 ,  2G001CA03 ,  2G001HA13 ,  2G001JA12 ,  2G001LA02 ,  2G001RA01 ,  2G001RA02 ,  2G001RA20 ,  2G052AA12 ,  2G052AD32 ,  2G052AD52 ,  2G052EC11 ,  2G052EC12 ,  2G052GA33 ,  2G052JA03 ,  2G052JA04 ,  2G052JA08

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 金属の疲労損傷度の評価法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-020110   出願人：石川島播磨重工業株式会社
• 電子スピン偏極度の計測方法及びその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-179530   出願人：科学技術振興事業団