特許
J-GLOBAL ID:200903092811138085
半導体装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
加藤 朝道
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-158965
公開番号(公開出願番号):特開2004-006461
出願日: 2002年05月31日
公開日(公表日): 2004年01月08日
要約:
【課題】Al組成比、膜厚をあげることなしにImaxを増加させることができる半導体装置を提供すること。【解決手段】基板上に、バッファ層と、(0001)面を主面とするウルツ鉱型III-V族化合物半導体を主成分とするとともに圧縮歪を受ける動作層と、を備える半導体装置において、前記動作層と前記バッファ層の間に介在するとともに、ウルツ鉱型III-V族窒化物半導体を主成分とするキャリア供給層を備え、前記キャリア供給層の一部又は全部にn型となる不純物が添加されていることを特徴とする。【選択図】図1
請求項(抜粋):
基板上に、バッファ層と、(0001)面を主面とするウルツ鉱型III-V族化合物半導体を主成分とするとともに圧縮歪を受ける動作層と、を備える半導体装置において、
前記動作層と前記バッファ層の間に介在するとともに、ウルツ鉱型III-V族窒化物半導体を主成分とするキャリア供給層を備え、
前記キャリア供給層の一部又は全部にn型となる不純物が添加されていることを特徴とする半導体装置。
IPC (3件):
H01L21/338
, H01L29/778
, H01L29/812
FI (1件):
Fターム (20件):
5F102FA03
, 5F102GB01
, 5F102GC01
, 5F102GD01
, 5F102GJ02
, 5F102GJ04
, 5F102GJ10
, 5F102GK04
, 5F102GL04
, 5F102GM04
, 5F102GM08
, 5F102GQ03
, 5F102GR01
, 5F102GT01
, 5F102GT02
, 5F102GT03
, 5F102HC01
, 5F102HC11
, 5F102HC19
, 5F102HC21
引用特許:
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