特許
J-GLOBAL ID：200903092986272469

表示用半導体装置及び表示装置

発明者：
市川 弘明

市川 弘明 について


出願人/特許権者：
ソニー株式会社

ソニー株式会社 について


代理人 (1件)： 鈴木 晴敏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-174210
公開番号（公開出願番号）：特開平9-005377
出願日： 1995年06月16日
公開日（公表日）： 1997年01月10日
要約：
【要約】【目的】 表示用半導体装置に内蔵されるレベル変換回路の検査及び選別を容易化する。【構成】 アクティブマトリクス型表示装置の駆動基板1となる表示用半導体装置は、行列状に配された画素電極5と、個々の画素電極5に画像信号を書き込むスイッチング素子6とを備えている。又、垂直駆動回路7、水平駆動回路8、レベル変換回路9及び検査回路12を同一の駆動基板1上に内蔵している。垂直駆動回路7は制御信号に応じて動作しスイッチング素子6を行毎に選択する。水平駆動回路8は制御信号に応じて動作し選択されたスイッチング素子6に画像信号を供給する。レベル変換回路9は外部から入力された制御信号を低レベルから高レベルに変換して垂直駆動回路7及び水平駆動回路8に供給する。検査回路12はレベル変換回路9の動作を診断し、その結果を端子11に出力する。
請求項（抜粋）：
行列状に配された画素電極と、個々の画素電極に画像信号を書き込むスイッチング素子と、制御信号に応じて動作しスイッチング素子を行毎に選択する垂直駆動回路と、制御信号に応じて動作し選択されたスイッチング素子に画像信号を供給する水平駆動回路と、外部から入力された制御信号を低レベルから高レベルに変換して垂直駆動回路及び水平駆動回路に供給するレベル変換回路とを同一基板に集積形成した表示用半導体装置であって、該レベル変換回路の動作を診断する検査回路を同一基板上に内蔵した事を特徴とする表示用半導体装置。
IPC (5件)：
G01R 31/00 ,  G02F 1/133 550 ,  G09G 3/20 ,  G09G 3/36 ,  G09G 5/00
FI (5件)：
G01R 31/00 ,  G02F 1/133 550 ,  G09G 3/20 N ,  G09G 3/36 ,  G09G 5/00 X
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (1件)
  • レベルシフタ回路
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-067258   出願人：日本電気株式会社

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