特許
J-GLOBAL ID:200903093002384527

シリコンカーバイド結晶膜の形成方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長尾 常明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-251588
公開番号(公開出願番号):特開2000-087232
出願日: 1998年09月04日
公開日(公表日): 2000年03月28日
要約:
【要約】【課題】 基板温度を低温にして熱歪みによる欠陥を生じさせず、高速成膜で結晶性の良好なシリコンカーバイド結晶膜を形成する。【解決手段】 ホローカソード7の内壁にコーティングしたシリコンカーバイドターゲット11を、放電ガス12をプラズマ13化して生じた正イオンでスパッタリングし、該放電ガス12の流れによって前記スパッタリングされたシリコンカーバイド分子を基板1に供給し、該基板上にシリコンカーバイド結晶膜を成長形成する。
請求項(抜粋):
ホローカソード内壁にコーティングしたシリコンカーバイドターゲットを、放電ガスをプラズマ化して生じたイオンでスパッタリングし、該放電ガスの流れによって前記スパッタリングされたシリコンカーバイド分子を基板に供給し、シリコンカーバイド結晶膜を該基板上に形成することを特徴とするシリコンカーバイド結晶膜の形成方法。
IPC (3件):
C23C 14/34 ,  C30B 29/36 ,  H01L 21/203
FI (4件):
C23C 14/34 S ,  C23C 14/34 A ,  C30B 29/36 A ,  H01L 21/203 S
Fターム (27件):
4G077AA03 ,  4G077BE08 ,  4G077DA12 ,  4G077EA02 ,  4G077SA04 ,  4G077SA07 ,  4G077SB03 ,  4G077TC06 ,  4K029AA04 ,  4K029AA06 ,  4K029AA09 ,  4K029BA56 ,  4K029DA08 ,  4K029DC05 ,  4K029DC35 ,  4K029EA05 ,  4K029EA06 ,  5F103AA08 ,  5F103BB17 ,  5F103BB22 ,  5F103BB42 ,  5F103DD17 ,  5F103HH03 ,  5F103HH04 ,  5F103NN06 ,  5F103RR01 ,  5F103RR06
引用特許:
審査官引用 (6件)
  • スパッタリング装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-109860   出願人:株式会社島津製作所
  • 炭化珪素膜
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-023963   出願人:ホーヤ株式会社
  • 特開昭60-181270
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