特許
J-GLOBAL ID:200903093002384527
シリコンカーバイド結晶膜の形成方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
長尾 常明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-251588
公開番号(公開出願番号):特開2000-087232
出願日: 1998年09月04日
公開日(公表日): 2000年03月28日
要約:
【要約】【課題】 基板温度を低温にして熱歪みによる欠陥を生じさせず、高速成膜で結晶性の良好なシリコンカーバイド結晶膜を形成する。【解決手段】 ホローカソード7の内壁にコーティングしたシリコンカーバイドターゲット11を、放電ガス12をプラズマ13化して生じた正イオンでスパッタリングし、該放電ガス12の流れによって前記スパッタリングされたシリコンカーバイド分子を基板1に供給し、該基板上にシリコンカーバイド結晶膜を成長形成する。
請求項(抜粋):
ホローカソード内壁にコーティングしたシリコンカーバイドターゲットを、放電ガスをプラズマ化して生じたイオンでスパッタリングし、該放電ガスの流れによって前記スパッタリングされたシリコンカーバイド分子を基板に供給し、シリコンカーバイド結晶膜を該基板上に形成することを特徴とするシリコンカーバイド結晶膜の形成方法。
IPC (3件):
C23C 14/34
, C30B 29/36
, H01L 21/203
FI (4件):
C23C 14/34 S
, C23C 14/34 A
, C30B 29/36 A
, H01L 21/203 S
Fターム (27件):
4G077AA03
, 4G077BE08
, 4G077DA12
, 4G077EA02
, 4G077SA04
, 4G077SA07
, 4G077SB03
, 4G077TC06
, 4K029AA04
, 4K029AA06
, 4K029AA09
, 4K029BA56
, 4K029DA08
, 4K029DC05
, 4K029DC35
, 4K029EA05
, 4K029EA06
, 5F103AA08
, 5F103BB17
, 5F103BB22
, 5F103BB42
, 5F103DD17
, 5F103HH03
, 5F103HH04
, 5F103NN06
, 5F103RR01
, 5F103RR06
引用特許:
審査官引用 (6件)
-
スパッタリング装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-109860
出願人:株式会社島津製作所
-
炭化珪素膜
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-023963
出願人:ホーヤ株式会社
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特開昭60-181270
-
特開平4-015908
-
薄膜形成方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-058711
出願人:富士通株式会社
-
特開昭61-073881
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