特許
J-GLOBAL ID：200903093148958681
研削箇所におけるクランクピンの寸法、形状の偏りを計測するための装置及び方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉武 賢次 (外5名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-564945
公開番号（公開出願番号）：特表2003-526094
出願日： 2001年01月19日
公開日（公表日）： 2003年09月02日
要約：
【要約】クランクシャフト(34)のクランクピン(18)を検査するための装置、及び関連する方法に関する。クランクシャフト(34)は、それが動作する数値制御研削機械上に配置されている。装置は計測ヘッドを備えている。計測ヘッドは、V字状形状の参照デバイス(20)、並進方向にそって軸方向に移動可能であってクランクピンの表面に接触するフィーラー(17)、及び研削ホイールスライド(1)に接続された支持デバイス(5,9,12)であって計測ヘッドに取り付けられ、それがクランクシャフトの主回転軸(O)に関して軌道移動する間、クランクピンとの接触を維持するように関連デバイス(20)を許容する支持デバイス(5,9,12)を、具備している。クランクシャフトの所定の角度位置において供給されるトランスデューサー(41)の信号に対応する概略値は、保持されると共に、変化を補正するように処理される。当該変化は、V字状形状の参照デバイスの両サイドと検査されるクランクピンの表面との間における接触と、ピンの軌道回転の間におけるV字状形状の参照デバイスの角度配置の変化と、の両者によってもたらされる。
請求項（抜粋）：
研削ホイール(4)を有する研削ホイールスライド(1)と主回転軸(O)を規定するワークテーブル(23)とを有する研削機械であってそれが動作される数値制御された研削機械の前記主回転軸(O)に関して軌道回転している間に、クランクシャフト(34)のクランクピン(18)の寸法及び形状の偏りの検査のための装置であって、 検査されるクランクピン(18)に係合するように適合されたV字状形状の参照デバイス(20,20’)、検査されるクランクピン(18)の表面に接触するように適合されたフィーラー(17)、及び、V字状形状の参照デバイス(20,20’)に関するフィーラー(17)の位置を示す信号を供給するように適合されたトランスデューサー(41)、を有する計測ヘッド(39,39’)と、 計測ヘッド(39,39’)を移動可能に支持する相互に可動な連結要素(9,12)を有する支持デバイス(5,9,12)と、 静止位置から検査位置まで、及び、検査位置から静止位置まで、の計測ヘッド(39,39’)の自動的な移動を制御するための制御デバイス(28)と、 トランスデューサー(41)によって供給される前記信号を受け取って処理するように適合された計測ヘッド(39,39’)に接続された処理及び表示デバイス(22,23)と、を備え、 処理および表示デバイス(22,23)は、トランスデューサー(41)によって供給される前記信号(rg(θ))の処理を実行して、検査されるクランクピン(18)の外形を示す値(r(ψ))を得るように適合されており、 検査状態におけるクランクピン(18)の軌道回転の間における連結要素(9,12)及び計測ヘッド(39,39’)の動作によって、及び、V字状形状の参照デバイス(20,20’)と検査されるクランクピン(18)の表面との間における接触(A,B)によって、もたらされる変化のために、トランスデューサー(41)によって供給される信号の値(rg(θ))を補正するように、前記処理(66-72)は適合されていることを特徴とする装置。
IPC (4件)：
G01B 5/10
, B23Q 17/20
, B24B 5/42
, B24B 49/04
G01B 5/10 Z
, B23Q 17/20 A
, B24B 5/42
, B24B 49/04 A
2F062AA32
, 2F062AA71
, 2F062BB03
, 2F062BC80
, 2F062EE01
, 2F062EE04
, 2F062EE62
, 2F062FF07
, 2F062GG51
, 2F062GG71
, 3C029BB03
, 3C034AA01
, 3C034BB91
, 3C034CA01
, 3C034CA05
, 3C034DD01
, 3C043AC21
, 3C043CC03
, 3C043DD06
