特許
J-GLOBAL ID:200903093242482518
ビット誤り測定器
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
草野 卓 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-285169
公開番号(公開出願番号):特開2001-111531
出願日: 1999年10月06日
公開日(公表日): 2001年04月20日
要約:
【要約】【課題】 ビット誤りとビットパターンの関係や、ビット誤りとビットパターンのパターン効果の関係を解析すること。【解決手段】 基準データと入力データとを照合し、誤りビットが検出されるごとに、その時の基準データ発生部からのビット位置情報を取込み、パターン表示部33に基準データのビットパターンを連続的に表示し、その誤りのあったビットには、印し、図は斜線を付けて表示する。ビットパターン表示の各行の左端のビット位置が、代表ビット位置表示部34に表示する。
請求項(抜粋):
入力データと基準データとを照合手段で照合して入力データのビット誤りを検出するビット誤り測定器において、上記照合手段で検出した誤りビットの位置情報を連続的に記録する記録手段を具備することを特徴とするビット誤り測定器。
Fターム (8件):
5K014AA05
, 5K014DA05
, 5K014EA00
, 5K014EA01
, 5K014EA04
, 5K014GA02
, 5K014GA03
, 5K014HA10
引用特許:
審査官引用 (9件)
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ビット誤り測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-201743
出願人:アンリツ株式会社
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誤り検出器
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-102956
出願人:株式会社アドバンテスト
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誤り率測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-191566
出願人:日本電信電話株式会社
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ビット誤り測定器
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-036527
出願人:株式会社アドバンテスト
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特開昭53-115254
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光信号モニタ回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-172549
出願人:日立電線株式会社
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特開平2-142247
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特開昭55-078656
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特開昭56-073938
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