特許
J-GLOBAL ID：200903093435039328

目視検査支援システム

発明者：
森井 英之

森井 英之 について

, 
丹下 博文

丹下 博文 について


出願人/特許権者：
松下電器産業株式会社

松下電器産業株式会社 について


代理人 (3件)： 岩橋 文雄 ,  内藤 浩樹 ,  永野 大介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-177251
公開番号（公開出願番号）：特開2006-349540
出願日： 2005年06月17日
公開日（公表日）： 2006年12月28日
要約：
【課題】NGとなった箇所のみ目視検査装置で不良箇所の画像を確認することで、迅速で確実性の高い目視検査支援システムを提供する。【解決手段】第1の検査装置47より被検査物体を検査した外観状態を示すデータをデータ処理する第1のコンピューター21と、第1の検査装置47の検査後の被検査物体を目視検査する目視検査装置4とを備え、目視検査装置4は、被検査物体を載置して該被検査物を固定しXY方向のいずれか一方向にのみ移動可能なテーブルと、被検査物上方に位置し、ズーム機能及び自動絞り機能を有する被検査物を撮像するカメラ5と、テーブルの垂直な面に対して30°〜60°の角度で傾斜し且つ前記被検査物の回りを360°回転する当該カメラの動きと連動して前記被検査物を照明する少なくとも2個のランプを有する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
被検査物体の外観状態を検査して不良状態を判定する第1の検査装置と、 前記第1の検査装置より被検査物体を検査した外観状態を示すデータをデータ処理する第1のコンピューターと、 前記第1の検査装置の検査後の被検査物体の撮像画像を目視検査するためのカメラを有する目視検査装置とを備え、 前記第1の検査装置にて不良と判断された被検査物体の不良状態を示すデータに基づいて、前記目視検査装置のカメラの撮像状態を制御して得られる表示画像を目視して前記被検査物体を検査する目視検査支援システム。
IPC (2件)：
G01N 21/84 ,  H05K 3/00
FI (2件)：
G01N21/84 D ,  H05K3/00 Q
Fターム (10件)：
2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051AC02 ,  2G051BA01 ,  2G051BC01 ,  2G051BC04 ,  2G051CA04 ,  2G051CA11 ,  2G051CD02 ,  2G051EA12
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (8件)
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