特許
J-GLOBAL ID：200903093523940817

伝達特性測定装置、方法、プログラムおよび記録媒体

発明者：
加藤 英志

加藤 英志 について

, 
山下 友勇

山下 友勇 について


出願人/特許権者：
株式会社アドバンテスト

株式会社アドバンテスト について


代理人 (1件)： 細田 益稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-290365
公開番号（公開出願番号）：特開2007-101319
出願日： 2005年10月03日
公開日（公表日）： 2007年04月19日
要約：
【課題】被測定物の伝達特性を簡単な構成により得る。【解決手段】連続波光L0を生成する連続波光源10と、連続波光L0が被測定物2を透過または反射したものである応答光および連続波光L0をテラヘルツ光遅延回路30により遅延させた遅延光が合波器24により合波された合波光を検出するテラヘルツ光検出器32と、テラヘルツ光検出器32の検出結果に基づき、被測定物2の伝達特性(振幅特性および位相特性)を測定する特性測定部40とを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
連続波光を生成する連続波光源と、 前記連続波光が被測定物を透過または反射したものである応答光および前記連続波光を遅延させた遅延光を合波した合波光を検出する合波光検出手段と、 前記合波光検出手段の検出結果に基づき、前記被測定物の伝達特性を測定する特性測定手段と、 を備えた伝達特性測定装置。
IPC (1件)：
G01N 21/35
FI (1件)：
G01N21/35 Z
Fターム (10件)：
2G059AA02 ,  2G059AA03 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE11 ,  2G059GG09 ,  2G059HH01 ,  2G059KK01 ,  2G059KK09
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (3件)

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