特許
J-GLOBAL ID:200903093581928312

シリコン単結晶ウェ-ハおよびその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 八田 幹雄 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-080451
公開番号(公開出願番号):特開平11-335198
出願日: 1999年03月24日
公開日(公表日): 1999年12月07日
要約:
【要約】【課題】 COP等のGrown-in欠陥の少ないシリコン単結晶ウェーハ及びその製造方法を提供することを目的とする。【解決手段】 チョクラルスキー法により育成されたシリコン単結晶から得られたシリコン単結晶ウェーハであって、該ウェーハに見られる点欠陥の吸収層の面内分布が、同心円状、らせん状及び放射状の1種又は2種以上の形態であることを特徴とするシリコン単結晶ウェーハ及びその製造方法である。
請求項(抜粋):
チョクラルスキー法により育成されたシリコン単結晶から得られたシリコン単結晶ウェーハであって、該ウェーハに見られるCOP、酸素濃度及び/又は不純物濃度の面内分布が、同心円状、らせん状及び放射状の1種又は2種以上の形態であることを特徴とするシリコン単結晶ウェーハ。
引用特許:
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る