特許
J-GLOBAL ID:200903093655540095

電気的特性測定治具

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 宮▼崎▲ 主税
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-168544
公開番号(公開出願番号):特開2000-356650
出願日: 1999年06月15日
公開日(公表日): 2000年12月26日
要約:
【要約】【課題】 摩耗が生じ難く、長期間に渡り使用でき、電子部品の端子電極に安定に接触され得る電気的特性測定治具を提供する。【解決手段】 基材としての基板2上に特性測定用電極3〜8が形成されており、該特性測定用電極3〜8が基板2に貼り合わされた金属板を用いて構成されている、電気的特性測定治具1。
請求項(抜粋):
基材上に設けられた特性測定用電極に電子部品の端子電極を当接させて電子部品の電気的特性を測定するための電気的特性測定治具であって、基材と、基材上に形成された特性測定用電極とを備え、前記特性測定用電極が、基材に貼り合わされた金属板を用いて構成されていることを特徴とする、電気的特性測定治具。
IPC (4件):
G01R 1/073 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/26 ,  H01R 11/01
FI (4件):
G01R 1/073 B ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/26 J ,  H01R 11/01 A
Fターム (12件):
2G003AB01 ,  2G003AG12 ,  2G003AG16 ,  2G003AH05 ,  2G011AA21 ,  2G011AF06 ,  2G036AA03 ,  2G036AA04 ,  2G036BB04 ,  2G036BB09 ,  2G036BB12 ,  2G036CA09
引用特許:
審査官引用 (3件)

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