特許
J-GLOBAL ID:200903093791320120

炭化珪素半導体装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 小川 勝男 ,  田中 恭助
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-289821
公開番号(公開出願番号):特開2006-108217
出願日: 2004年10月01日
公開日(公表日): 2006年04月20日
要約:
【課題】 炭化珪素を用いた静電誘導トランジスタにおいて、シート抵抗が小さいゲート領域を形成し、ゲート遅延を短縮し、高速スイッチング動作を実現する。【解決手段】 トレンチ溝110〜114に沿ってゲート領域12を形成したSITの溝底のゲート引出し層13からCVD法により形成されるタングステンプラグ膜を利用して、溝上部までタングステンプラグ膜(ゲート立上げ金属膜)31で持ち上げ、トレンチ溝短冊の長辺を、ゲート遅延が問題にならない程度に短くし、溝上部でタングステンプラグ膜同士を接続した。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
半導体基体の第1導電型n(又はp)の基板と、この基板の一面に形成されたドレイン電極と、前記基板の他面側に形成された第1導電型のエピタキシャル層と、半導体基体の前記他面に沿って形成された第1導電型のソース領域と、このソース領域にオーミック接触するソース用オーミック接触金属膜と、半導体基体の前記他面から形成された複数の溝と、これらの溝に沿って形成された第2導電型p(又はn)のゲート領域を備えた縦型の電界効果トランジスタを備えた半導体装置において、前記溝の底部で、前記ゲート領域の引出し層とオーミック接触するとともに、半導体基体の前記他面へ立上がるゲート立上げ金属膜と、半導体基体の前記他面から前記ゲート立上げ金属膜に接続されたゲート引出し金属膜を備えたことを特徴とする半導体装置。
IPC (1件):
H01L 29/80
FI (1件):
H01L29/80 V
Fターム (16件):
5F102FA02 ,  5F102FB01 ,  5F102GB04 ,  5F102GC09 ,  5F102GD04 ,  5F102GJ02 ,  5F102GL02 ,  5F102GM02 ,  5F102GR09 ,  5F102GR13 ,  5F102GS03 ,  5F102GS10 ,  5F102GV03 ,  5F102GV08 ,  5F102HC11 ,  5F102HC15
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (4件)
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