特許
J-GLOBAL ID：200903094184457695
品質予測装置、品質予測方法及び製品の製造方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
小林 久夫
, 安島 清
, 佐々木 宗治
, 大村 昇
, 高梨 範夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-239260
公開番号（公開出願番号）：特開2009-070227
出願日： 2007年09月14日
公開日（公表日）： 2009年04月02日
要約：
【課題】製品の品質を高精度で予測することを可能にした品質予測装置及び品質予測方法並びにそれを利用した製品の製造方法を提供する。【解決手段】過去に製造された製品の品質データとその製品の製造時の操業データから算出した特徴量データとが対応付けられて記憶された実績データベース(13)と、品質を予測すべき製品の製造時の操業データから特徴量データを算出する特徴量算出手段(2)と、特徴量算出手段(2)で算出された特徴量データと、実績データベース(13)に記憶された各特徴量データとの類似度を算出し、類似度と実績データベース(13)内の品質データとから、製品の品質予測値を算出する品質予測値算出手段(3)とを有する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
過去に製造された製品の品質データとその製品の製造時の操業データから算出した特徴量データとが対応付けられて記憶された実績データベースと、
品質を予測すべき製品の製造時の操業データから特徴量データを算出する特徴量算出手段と、
該特徴量算出手段で算出された特徴量データと、前記実績データベースに記憶された各特徴量データとの類似度を算出し、該類似度と前記実績データベース内の品質データとから、製品の品質予測値を算出する品質予測値算出手段と
を有することを特徴とする品質予測装置。
IPC (3件)：
G05B 19/418
, B22D 11/16
, G06Q 50/00
G05B19/418 Z
, B22D11/16 Z
, G06F17/60 108
3C100AA56
, 3C100BB11
, 3C100BB27
, 3C100EE10
, 4E004TB00
出願人引用 (3件)
審査官引用 (8件)
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