特許
J-GLOBAL ID:200903094297397788
イオンビーム電流計測装置の構造
発明者:
出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
清水 守 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-216977
公開番号(公開出願番号):特開2002-033292
出願日: 2000年07月18日
公開日(公表日): 2002年01月31日
要約:
【要約】【課題】 フラグファラデー形状を変更し、スパッタされる部分の面積を小さくする、またはカバーとして用いるカーボン板などの形状を変更し、スパッタされる部分の面積を小さくすることができるイオンビーム電流計測装置の構造を提供する。【解決手段】 大電流イオン注入装置におけるイオンビーム電流計測装置4のイオンビームと近接する面4Bの形状をR形に構成し、イオンビームと接触する面積を低減する。
請求項(抜粋):
大電流イオン注入装置におけるイオンビーム電流計測装置のイオンビームと近接する面の形状をR形に構成し、イオンビームと接触する面積を低減することを特徴とするイオンビーム電流計測装置の構造。
IPC (5件):
H01L 21/265
, C23C 14/48
, G01T 1/29
, G21K 5/04
, H01J 37/317
FI (5件):
C23C 14/48 B
, G01T 1/29 B
, G21K 5/04 C
, H01J 37/317 C
, H01L 21/265 T
Fターム (8件):
2G088EE29
, 2G088FF13
, 2G088GG27
, 2G088JJ09
, 2G088JJ37
, 4K029DE00
, 4K029EA09
, 5C034CC19
引用特許: