特許
J-GLOBAL ID：200903094597565143
結晶物質のX線回折データのMEM構造解析により静電ポテンシャルを実験的に求める方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
社本 一夫
, 増井 忠弐
, 小林 泰
, 千葉 昭男
, 富田 博行
, 桜井 周矩
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-184553
公開番号（公開出願番号）：特開2007-003375
出願日： 2005年06月24日
公開日（公表日）： 2007年01月11日
要約：
【課題】 MEM構造解析により得られる電子密度を、たんぱく質に代表される高分子に適用して、その高分子の静電ポテンシャルの計算に応用する。【解決手段】 実験的に得られるX線回折データにMEM構造解析を適用することで詳細な電子密度分布を求め,これをもとに観測されていないX線回折データを予測することで静電ポテンシャルを求める。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
X線回折データをもとに静電ポテンシャルを実験的に求める方法において,最大エントロピー法(MEM)を用いることを特徴とする計算方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (14件)：
2G001AA01
, 2G001BA18
, 2G001CA01
, 2G001FA29
, 2G001FA30
, 2G001GA06
, 2G001GA08
, 2G001KA01
, 2G001KA12
, 2G001LA11
, 2G001LA20
, 2G001NA07
, 2G001NA11
, 2G001NA20
