特許
J-GLOBAL ID:200903094597565143

結晶物質のX線回折データのMEM構造解析により静電ポテンシャルを実験的に求める方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件): 社本 一夫 ,  増井 忠弐 ,  小林 泰 ,  千葉 昭男 ,  富田 博行 ,  桜井 周矩
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-184553
公開番号(公開出願番号):特開2007-003375
出願日: 2005年06月24日
公開日(公表日): 2007年01月11日
要約:
【課題】 MEM構造解析により得られる電子密度を、たんぱく質に代表される高分子に適用して、その高分子の静電ポテンシャルの計算に応用する。【解決手段】 実験的に得られるX線回折データにMEM構造解析を適用することで詳細な電子密度分布を求め,これをもとに観測されていないX線回折データを予測することで静電ポテンシャルを求める。【選択図】 図4
請求項(抜粋):
X線回折データをもとに静電ポテンシャルを実験的に求める方法において,最大エントロピー法(MEM)を用いることを特徴とする計算方法。
IPC (1件):
G01N 23/20
FI (1件):
G01N23/20
Fターム (14件):
2G001AA01 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001FA29 ,  2G001FA30 ,  2G001GA06 ,  2G001GA08 ,  2G001KA01 ,  2G001KA12 ,  2G001LA11 ,  2G001LA20 ,  2G001NA07 ,  2G001NA11 ,  2G001NA20
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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引用文献:
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