特許
J-GLOBAL ID：200903095304960058

ICテスタ、ICテスタのテスト方法、及び記憶媒体

発明者：
鶴見 裕二

鶴見 裕二 について

, 
花島 光忠

花島 光忠 について


出願人/特許権者：
安藤電気株式会社

安藤電気株式会社 について


代理人 (1件)： 荒船 博司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-231778
公開番号（公開出願番号）：特開2001-056357
出願日： 1999年08月18日
公開日（公表日）： 2001年02月27日
要約：
【要約】【課題】 DUTの電源電流を測定し、周波数解析により動作解析及び故障解析をするときに、測定条件またはDUTの種類によって電源電流の波形が鈍ったりした場合でも、正確な測定結果が得られるICテスタを提供する。【解決手段】 制御回路17は、テストパターン発生回路12から入力されたテストパターン信号の最後のパルスを判別し、その最後のパルスが入力されると、所定の時間だけテスト実行信号を延長するための延長制御信号をテスト信号発生回路13に出力する。また、ICテスタ3は、動作解析及び故障解析の対象となるDUT1が複数の種類のものを選択して測定することを可能をするため、上記の制御回路17によってあらかじめ設定された時間は、その各々のDUT1の特性等によって、任意に設定を変更することができるような構成とすることができる。
請求項（抜粋）：
テスト実行期間を設定するテスト実行信号を発生するテスト実行信号発生手段と、このテスト実行信号により設定されるテスト実行期間中にテストパターン信号を被測定デバイスに印加するテストパターン印加手段と、このテストパターン印加中に被測定デバイスから出力される応答信号を解析する解析手段と、を備えたICテスタにおいて、前記テスト実行信号に基づいてテスト実行期間の終了タイミングを判別し、この判別した終了タイミングを延長させる延長信号を前記テスト実行信号発生手段に設定して、テスト実行期間を延長させる延長制御手段を備えることを特徴とするICテスタ。
Fターム (2件)：
2G032AA07 ,  2G032AB20
引用特許：
審査官引用 (4件)
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