特許
J-GLOBAL ID：200903095531115917

X線蛍光分光システム及びX線蛍光分光方法

発明者：
ツエウ チェン

ツエウ チェン について

, 
デイビッド エム. ギブソン

デイビッド エム. ギブソン について


出願人/特許権者：
エックス-レイ オプティカル システムズ インコーポレーテッド

エックス-レイ オプティカル システムズ インコーポレーテッド について


代理人 (2件)： 谷 義一 ,  阿部 和夫
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-505939
公開番号（公開出願番号）：特表2005-512020
出願日： 2002年06月18日
公開日（公表日）： 2005年04月28日
要約：
本発明は、X線蛍光分光システム及びX線蛍光分光方法を提供する。X線蛍光分光システム100には、X線放射源110と、サンプルの少なくとも1つの分析物を刺激して蛍光発光させるために、線源からX線放射を収集して、X線放射をサンプルの上の焦点に集束させるための、X線放射源110とサンプル130との間に配置された励起光学部品120とが備えられ、さらに、X線蛍光検出器150と、サンプルの上の焦点からX線蛍光を収集して、蛍光X線をX線蛍光検出器に向けて集束させるための、サンプルとX線蛍光検出器との間に配置された両側湾曲回折光学部品を備える収集光学部品140とが備えられている。
請求項（抜粋）：
少なくとも1つのX線放射源と、 サンプルの少なくとも1つの分析物を励起して蛍光発光させるために、前記X線放射源からのX線放射を収集して、該X線放射を前記サンプルの上の焦点に集束させるための、前記X線放射源と前記サンプルとの間に配置された少なくとも1つの励起光学部品と、 少なくとも1つのX線検出器と、 前記サンプルの上の前記焦点からX線蛍光を収集して、該X線蛍光を前記X線検出器に向けるための、前記サンプルと前記X線検出器との間に配置された少なくとも1つの両側湾曲回折光学部品を有する少なくとも1つの収集光学部品と を備えたことを特徴とするX線蛍光分光システム。
IPC (3件)：
G01N23/223 ,  G21K1/00 ,  G21K1/06
FI (4件)：
G01N23/223 ,  G21K1/00 X ,  G21K1/06 B ,  G21K1/06 F
Fターム (9件)：
2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001EA01 ,  2G001EA02 ,  2G001EA20 ,  2G001KA01 ,  2G001LA04 ,  2G001MA02
引用特許：
出願人引用 (10件)
  • 米国特許第5,175,755号明細書
  • 米国特許出願第60/336,584号明細書(2001年12月4日出願)
  • 米国特許第第5,192,869号明細書
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審査官引用 (4件)
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引用文献：
審査官引用 (2件)

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