自動分析装置

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小川勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-015013
公開番号（公開出願番号）：特開平10-213586
出願日： 1997年01月29日
公開日（公表日）： 1998年08月11日
要約：

【要約】【課題】本発明は、自動的に再検査を行うことができる自動分析装置に関し、再検査が不要な検体ラックを帰還ラインを経由させずに回収できる自動分析装置を提供する。【解決手段】検体ラック2は搬送ライン3の途中にある分析部6,14にてサンプル採取される。搬送ライン3の出口付近に待機部40及びラック回収部23が配置される。サンプル採取された検体ラック2は、第1切替部22にて待機部40又はラック回収部23に振分けられ、待機部40に収容されていた検体ラックは、再検査要否の判定結果に応じて第2切替部27にて帰還ライン29又はラック回収部23に振分けられる。

請求項（抜粋）：

検体ラックを収容可能なラック供給部と、検体ラックに収容されているサンプル容器から採取したサンプルに関し指示された分析項目を検査する分析部と、上記ラック供給部から供給された検体ラックを分析部対応位置まで搬送しサンプル採取済みの検体ラックを出口まで搬送する搬送ラインと、再検査の可能性がある検体ラックを待機させる待機部と、再検査が不要な検体ラックが収納されるラック回収部とを備えた自動分析装置において、上記分析部と上記ラック回収部とによって挟むように上記待機部を配置し、サンプルが採取された検体ラックに対し上記待機部又は上記ラック回収部のいずれかに移すように振分ける振分け装置を設けたことを特徴とする自動分析装置。

IPC (2件)：

G01N 35/04 , G01N 35/02

FI (2件)：

G01N 35/04 H , G01N 35/02 Z

引用特許：

出願人引用 (9件)

イオンビーム検出装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-349595 出願人：株式会社島津製作所
特開平3-183957
自動分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-303970 出願人：株式会社東芝

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審査官引用 (9件)

イオンビーム検出装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-349595 出願人：株式会社島津製作所
特開平3-183957
特開平3-183957

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