特許
J-GLOBAL ID：200903097201205742
光学フィルムの検査方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
長谷川 芳樹
, 寺崎 史朗
, 青木 博昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-106512
公開番号（公開出願番号）：特開2005-291878
出願日： 2004年03月31日
公開日（公表日）： 2005年10月20日
要約：
【課題】 光学フィルムへの光の映り込みを十分に防止して、欠陥の検査を的確に行うことができる光学フィルムの検査方法を提供すること。【解決手段】 本発明は、液晶フィルム2を含む光学フィルム1に対し、光源20から偏光板18aを通して光を照射し、光学フィルム1に対し光源20と反対側に偏光板18bを配置し、紺色のクリーン服23を着用して、偏光板18bを通して光学フィルム1に含まれる液晶フィルム2における欠陥を検査する光学フィルム1の検査方法である。この方法によれば、光源20から発せられる光がクリーン服23に照射されても、光の反射が十分に防止される。このため、反射光による検査員Mの姿の映込みが十分に防止され、光学フィルム1において、欠陥部分と無欠陥部分とのコントラストの低下が十分に防止される。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
液晶フィルムを含む光学フィルムに対し、光源から第1の偏光板を通して光を照射し、
前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、第2の偏光板を有する欠陥検査用素子を配置し、
可視光に対して反射率が50%以下となるクリーン服を着用して、前記第2の偏光板を通して前記光学フィルムに含まれる前記液晶フィルムにおける欠陥を検査する、
ことを特徴とする光学フィルムの検査方法。
IPC (4件)：
G01N21/84
, G01M11/00
, G02B5/30
, G02F1/13
G01N21/84 D
, G01M11/00 T
, G02B5/30
, G02F1/13 101
2G051AA41
, 2G051AB02
, 2G051AC22
, 2G051CA11
, 2G051CB02
, 2G051CC07
, 2G086EE10
, 2H049BA02
, 2H049BC01
, 2H049BC22
, 2H088FA12
, 2H088FA13
, 2H088FA27
, 2H088FA29
, 2H088HA18
, 2H088HA28
, 2H088MA20
