特許
J-GLOBAL ID：200903097362911515
光部品特性測定システム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山内 梅雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-366152
公開番号（公開出願番号）：特開平11-183324
出願日： 1997年12月25日
公開日（公表日）： 1999年07月09日
要約：
【要約】【課題】 光部品特性測定システムにおいて、そのシステムを構成している光部品の偏光依存性損失に影響されずに安定した高精度な光部品特性の測定を行うことができる光部品特性測定システムを提供すること。【解決手段】 互いに異なる波長を有する信号光を出力する分布帰還型レーザダイオード101〜108と、それらに対応して出力光を適時オン・オフする光スイッチ111〜118と光カプラ12で直線偏波の多波長光源を構成する。この多波長光源からの出力光を偏波スクランブラ30によりランダムに偏光状態を変えてDUT19への試験信号光となるようにした。DUT19からの出力光パワーは光スペクトラムアナライザ23で測定すると、全偏光状態の損失状態を含むことになるため、この測定結果を平均処理することによって、測定システムを構成する偏光依存性損失に影響されない安定した高精度な測定を行うことができるようになる。
請求項（抜粋）：
互いに異なる複数の波長を有する直線偏波の信号光を出力する多波長光源と、この多波長光源から出力された信号光の偏波状態をスクランブルする偏波スクランブラと、この偏波スクランブラによってスクランブルされた信号光を試験信号光として入力される被測定光部品と、波長ごとにこの被測定光部品からの出力光のパワーを測定して平均化する光パワー測定平均化手段とを具備することを特徴とする光部品特性測定システム。
IPC (3件)：
G01M 11/00
, G02B 6/00
, H04B 10/08
G01M 11/00 T
, G02B 6/00 B
, H04B 9/00 K
