特許
J-GLOBAL ID:200903097484688361
化学的機械的研磨用スラリーおよびこれを用いた半導体装置の製造方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (7件):
鈴江 武彦
, 村松 貞男
, 坪井 淳
, 橋本 良郎
, 河野 哲
, 中村 誠
, 河井 将次
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-362607
公開番号(公開出願番号):特開2004-193495
出願日: 2002年12月13日
公開日(公表日): 2004年07月08日
要約:
【課題】アルミニウム層に対してさえ、高い研磨速度と、低いエロージョン、少ないスクラッチおよび/または少ない表面ラフネスとを同時に達成することができる化学的機械的研磨用スラリーを提供する。【解決手段】α-アルミナ粒子とα-アルミナとは異なる結晶構造を有する少なくとも1種の他のアルミナ粒子を含むアルミナ粉末、および樹脂粒子を含有する化学的機械的研磨用スラリー。【選択図】 なし
請求項(抜粋):
α-アルミナ粒子と、α-アルミナとは異なる結晶構造を有する少なくとも1種の他のアルミナ粒子とを含むアルミナ粉末、および樹脂粒子を含有することを特徴とする化学的機械的研磨用スラリー。
IPC (3件):
H01L21/304
, B24B37/00
, C09K3/14
FI (6件):
H01L21/304 622D
, H01L21/304 622X
, B24B37/00 H
, C09K3/14 550C
, C09K3/14 550D
, C09K3/14 550Z
Fターム (5件):
3C058AA07
, 3C058AC04
, 3C058CB01
, 3C058CB03
, 3C058DA17
引用特許: