三次元計測装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：川口光男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-158651
公開番号（公開出願番号）：特開2005-337943
出願日： 2004年05月28日
公開日（公表日）： 2005年12月08日
要約：

【課題】計測対象物の三次元形状を計測するに際し、計測に要する時間の短縮を図るとともに、計測精度の向上を図ることの可能な三次元計測装置を提供する。【解決手段】印刷状態検査装置1は、基準面に対して照明装置3により斜め上方から複数の光成分パターンを照射し、CCDカメラ4により撮像された画像から、位置座標毎の輝度を得る。そして、制御装置7は、各位置座標と光成分パターンの輝度の相互関係値とを対応させて基準テーブルに記憶する。さらに、クリームハンダHの印刷されてなるプリント基板Kに対して、同様の光成分パターンを照射するとともに、計測位置座標における輝度の相互関係値を求める。計測位置座標における輝度の相互関係値から基準テーブルを参照し、基準面において輝度の相互関係値が同一の基準位置座標を取得する。基準位置座標及び計測位置座標に基づき、クリームハンダHの高さを三角測量の原理により演算する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

少なくとも計測対象物及び基準面に対し、位置により異なる光強度分布を有する光成分パターンを照射可能な照射手段と、前記光成分パターンの照射された計測対象物及び基準面からの反射光を撮像可能な撮像手段と、前記撮像手段にて、前記基準面からの反射光を撮像して得られた位置座標毎の輝度に関するデータと、前記計測対象物からの反射光を撮像して得られた所定の計測位置座標における輝度に関するデータとに基づき、前記基準面において、前記照射手段にて照射された光のうち、前記計測位置座標へ照射された光線と同一の光線が照射された基準位置座標を求めることで、少なくとも前記計測対象物の高さを三角測量の原理により演算する演算手段とを備えたことを特徴とする三次元計測装置。

IPC (2件)：

G01B11/25 , G01B11/24

FI (2件)：

G01B11/24 E , G01B11/24 K

Fターム (26件)：

2F065AA24 , 2F065AA53 , 2F065BB05 , 2F065CC26 , 2F065DD06 , 2F065FF06 , 2F065FF09 , 2F065GG21 , 2F065HH06 , 2F065HH12 , 2F065JJ03 , 2F065JJ09 , 2F065JJ26 , 2F065LL20 , 2F065LL21 , 2F065LL41 , 2F065QQ00 , 2F065QQ03 , 2F065QQ17 , 2F065QQ21 , 2F065QQ23 , 2F065QQ24 , 2F065QQ26 , 2F065QQ41 , 2F065RR05 , 2F065RR09

引用特許：

出願人引用 (1件)

特許第2711042号公報

審査官引用 (4件)

外観検査装置および外観検査方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-318114 出願人：株式会社ニッケ機械製作所, 株式会社マルチリンク
三次元計測装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-053144 出願人：シーケーディ株式会社
三次元計測装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-234718 出願人：シーケーディ株式会社

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