特許
J-GLOBAL ID：200903097812389202

蛍光体の検査方法および装置

発明者：
鈴木 信二

鈴木 信二 について

, 
山田 サユ

山田 サユ について


出願人/特許権者：
ウシオ電機株式会社

ウシオ電機株式会社 について


代理人 (1件)： 長澤 俊一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-323399
公開番号（公開出願番号）：特開2003-130801
出願日： 2001年10月22日
公開日（公表日）： 2003年05月08日
要約：
【要約】【課題】 赤の発光量を大きくして緑や青と同等とすることにより、蛍光体の塗布状態を容易に、かつ、短時間に検査できるようにすること。【解決手段】 光源にカドミウムと希ガスを発光管内に封入した200nm〜230nmの間に輝線を有するショートアーク型放電ランプ11aを使用する。該光源11aから光を、画像表示用基板等の被検査物10の蛍光体に照射し、該蛍光体から発生する蛍光をCCDセンサ15で受光して表示部17に表示し蛍光体の欠損等の塗布状況を検査する。また、CCDカメラ15で受光した画像を制御装置等に入力し、検査を自動化することもできる。また、上記ランプ11aとして、誘電体バリア放電を行うための電極と、クリプトンガスと塩素ガスを充填した放電容器を備えた、200nm〜230nmの間に輝線を有する誘電体バリアエキシマ放電ランプを用いてもよい。
請求項（抜粋）：
蛍光体に光を照射して蛍光を発光させ、発光した蛍光により、蛍光体を検査する蛍光体の検査方法であって、蛍光体に光を照射する光源として、少なくともカドミウムと希ガスを発光管内に封入した200nm〜230nmの間に輝線を有するショートアーク型放電ランプを用いたことを特徴とする蛍光体の検査方法。
IPC (3件)：
G01N 21/88 ,  C09K 11/00 ,  G01M 11/00
FI (3件)：
G01N 21/88 K ,  C09K 11/00 Z ,  G01M 11/00 T
Fターム (24件)：
2G051AA73 ,  2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051AB12 ,  2G051BA05 ,  2G051BA20 ,  2G051BB17 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051CB10 ,  2G051DA01 ,  2G051DA06 ,  2G051EA17 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G051FA10 ,  2G086EE12 ,  4H001CA01 ,  4H001CA06 ,  4H001XA05 ,  4H001XA08 ,  4H001XA39 ,  4H001XA64 ,  4H001YA63
引用特許：
審査官引用 (6件)
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