デジタル回路および画像処理装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：佐藤隆久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-292257
公開番号（公開出願番号）：特開2001-116802
出願日： 1999年10月14日
公開日（公表日）： 2001年04月27日
要約：

【要約】【課題】簡単かつ小規模な構成で、特定のデジタル回路モジュールのテストを短時間で行えるデジタル回路を提供することを目的とする。【解決手段】テスト動作時にTIN端子から入力された回路モジュール24のテストデータがスキャンセル31,1 〜31,4 ,32,1 〜32,4 ,33,1 〜33,4 ,34,1 〜34,4 を順にシフトする。そして、スキャンセル34,1 〜34,4 のQ端子からデジタル回路モジュール24 に出力され、デジタル回路モジュール24 がテストデータに基づいて動作する。そして、外部出力端子OUT1 〜OUT4 を監視することで、デジタル回路モジュール24 が正常に動作しているか否かが判断される。

請求項（抜粋）：

外部からデータが入力される第1の入力手段と、前記入力されたデータを用いて所定の処理を行う第1のデジタル回路モジュールと、前記第1のデジタル回路モジュールの処理結果に応じたデータを用いて所定の処理を行う第2のデジタル回路モジュールと、前段から後段にテストデータをシフト可能に直列に接続した複数のスキャンセルを備え、少なくとも一部の前記スキャンセルが前記第2のデジタル回路モジュールの入力端子に接続され、通常動作時に、前記スキャンセルに入力されたデータを対応するデジタル回路モジュールに出力し、テスト動作時に、前記少なくとも一部のスキャンセルに入力された前記テストデータを後段のスキャンセルおよび前記第2のデジタル回路モジュールに出力するスキャンチェーンと、前記テスト動作時に、前記第2のデジタル回路モジュールをテストするための前記テストデータが外部から入力され、当該入力されたテストデータを前記スキャンチェーンに入力する第2の入力手段と、前記第2のデジタル回路モジュールの処理結果に応じたデータを出力する出力手段とを有するデジタル回路。

IPC (2件)：

G01R 31/28 , G06F 11/22 360

FI (2件)：

G06F 11/22 360 P , G01R 31/28 G

引用特許：

審査官引用 (7件)

論理回路
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-354712 出願人：三菱電機株式会社
特開平4-112555
特開平4-112555

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