特許
J-GLOBAL ID:200903098823073459
テスト手順抽出システム
発明者:
,
,
,
出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
曾我 道照 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-056948
公開番号(公開出願番号):特開平11-259336
出願日: 1998年03月09日
公開日(公表日): 1999年09月24日
要約:
【要約】【課題】 利用者の煩雑なテスト手順抽出作業をなくし、同じテスト手順を抽出するのを防ぎ、プログラム仕様が変更された場合にもテスト手順の再抽出が容易にでき、利用者のアイデアに沿ったテスト手順を抽出しやすくし、利用者が考える数分のテスト手順を容易に抽出できるテスト手順抽出システムを得る。【解決手段】 プログラム仕様2を入力するためのプログラム仕様入力装置1、このプログラム仕様に基づきテスト手順として抽出するテスト手順抽出装置3、抽出されたテスト手順情報を出力するテスト手順出力装置4、テストを開始するプログラム状態を指定する開始状態指定装置6、テスト終了のプログラム状態を指定する終了状態指定装置7、抽出される全テスト手順数の上限数を指定するテスト上限数指定装置20を備え、テスト開始状態とテスト終了状態間に存在する入力操作数N(Nは1以上の整数値)のテスト手順を一部または全部抽出する。
請求項(抜粋):
基本装置として、(a)入力操作前のプログラム状態と、そのプログラム状態において発生し得る入力操作と発生した入力操作後のプログラム状態とを記述した仕様書を入力するためのプログラム仕様入力装置と、(b)このプログラム仕様に基づき入力操作前後のプログラム状態の一致性に着目しながら組み合わせ可能な入力操作同士をつなぎあわせた入力操作系列をテスト手順として抽出するテスト手順抽出装置と、(c)抽出されたテスト手順情報を出力するテスト手順出力装置との三つを備えると共に、(d)テストを開始するプログラム状態を指定またはプログラム仕様を基に自動解析する開始状態指定装置と、(e)テストを終了するプログラム状態を指定またはプログラム仕様を基に自動解析する終了状態指定装置とをさらに備え、上記テスト手順抽出装置は、テスト開始状態とテスト終了状態間に存在する入力操作数N(Nは1以上の整数値)のテスト手順を一部または全部抽出することを特徴とするテスト手順抽出システム。
引用特許:
前のページに戻る