特許

J-GLOBAL ID：200903098888310180

光触媒活性定量測定装置及び光触媒活性定量測定方法

発明者： 川口 俊郎 ,  二神 光次
出願人/特許権者： 川口 俊郎 ,  二神 光次
代理人 (1件)： 林 靖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-201747
公開番号（公開出願番号）：特開2009-036652
出願日： 2007年08月02日
公開日（公表日）： 2009年02月19日
要約：

【課題】本発明は、光を照射されたとき光触媒が生成する中間体の生成量を直接測定することができる光触媒活性定量測定装置及び光触媒活性定量測定方法を提供することを目的とする。【解決手段】本発明の光触媒活性定量測定装置は、(1)内部に光触媒の試料13を装着し光を照射するための石英ガラス窓12を備えた第1電離箱2と、第1電離箱2内に収容され磁気浮上する電極3bを備えて、電界によって光触媒の作用で生成された中間体の電荷とバックグラウンドの電荷とを電極3bに収集する磁気浮上電極電離箱Bと、(2)第1電離箱2と共通の構成を有する第2電離箱2と、電極3bと共通の構成を有し磁気浮上する電極3aとを備えて、電界によってバックグラウンドの電荷を電極3aに収集する磁気浮上電極電離箱Aと、(3)電極3aと電極3bの電位差に基づいて中間体の生成量を測定する制御演算部11を備えたことを特徴とする。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

光触媒反応を起こす材料を内部に装着して該材料に対し光を照射できる第1電離箱と、前記第1電離箱内に収容され磁気浮上する第1電極と、前記第1電極を帯電させるための第1静電帯電器と、前記第1電極に帯電している電荷を測定するための第1非接触電荷読取部とを具備し、前記第1電極と前記第1電離箱の間に電圧を印加し前記材料を装着して光を照射し、光触媒反応によって生成される中間体の電荷とバックグラウンドの電荷を前記第1電極に収集する第1磁気浮上電極電離箱と、 前記材料を装着する構成及び光を照射するための構成以外は前記第1電離箱と共通の構成を有する第2電離箱と、前記第1電極と共通の構成を有し前記第2電離箱内に収容されて磁気浮上する第2電極と、前記第2電極を帯電させるための第2静電帯電器と、前記第2電極に帯電している電荷を測定するための第2非接触電荷読取部とを具備し、前記第2電極と前記第2電離箱の間に電圧を印加してバックグラウンドの電荷を前記第2電極に収集する第2磁気浮上電極電離箱と、 前記第1電極と前記第2電極で測定した電荷量の差に基づいて前記光触媒反応によって生成される中間体の電荷を測定する測定部と、を備えたことを特徴とする光触媒活性定量測定装置。

IPC (1件)：

G01N 27/60

FI (1件)：

G01N27/60 A

Fターム (6件)：

2G041BA06 ,  2G041BA13 ,  2G088GG02 ,  2G088JJ09 ,  2G088JJ23 ,  2G088KK07

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 特許3061798号
  

審査官引用 (4件)

• 光触媒評価方法および評価装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-065509   出願人：株式会社荏原製作所
• 放射線測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-152562   出願人：川口俊郎, 的場優
• 光触媒能力評価値取得方法および光触媒能力評価値取得装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-152354   出願人：東北リコー株式会社
• 光触媒性能測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-110514   出願人：株式会社テクノス