蛍光X線分析装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：杉本修司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-083134
公開番号（公開出願番号）：特開2000-275195
出願日： 1999年03月26日
公開日（公表日）： 2000年10月06日
要約：

【要約】【課題】検量線等の回帰計算を行う蛍光X線分析装置において、同一元素について迅速に最適の計算条件を見出すことができ、したがって、全体として迅速で正確な分析ができる装置を提供する。【解決手段】検量線等の回帰計算にあたり、同一元素について複数の計算条件による計算を行う計算手段11と、その計算手段11により行われた複数の計算結果を、1つの画面12a にそれぞれ独立したグラフとして並べて表示する表示手段12とを備える。

請求項（抜粋）：

試料に1次X線を照射して、発生した蛍光X線の強度を測定する蛍光X線分析装置において、検量線またはファンダメンタルパラメータ法における感度曲線の回帰計算にあたり、同一元素について複数の計算条件による計算を行う計算手段と、その計算手段により行われた複数の計算結果を、1つの画面にそれぞれ独立したグラフとして並べて表示する表示手段とを備えたことを特徴とする蛍光X線分析装置。

Fターム (12件)：

2G001AA01 , 2G001BA04 , 2G001CA01 , 2G001EA01 , 2G001FA02 , 2G001FA06 , 2G001GA01 , 2G001HA01 , 2G001JA13 , 2G001JA20 , 2G001KA01 , 2G001SA12

引用特許：

審査官引用 (5件)

データ処理装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-326641 出願人：株式会社日立製作所, 日立計測エンジニアリング株式会社
分光光度計
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-029046 出願人：日本分光株式会社
蛍光X線強度と元素含有量の相関式を求める方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-265579 出願人：理学電機工業株式会社

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