特許

J-GLOBAL ID：200903099570795840

X線CT装置,X線CT装置による検出方法,X線センサ信号システム、及びX線センサ信号処理方法

発明者： 上村 博 ,  北澤 聡 ,  額賀 淳
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (2件)： 作田 康夫 ,  井上 学
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-184385
公開番号（公開出願番号）：特開2006-010364
出願日： 2004年06月23日
公開日（公表日）： 2006年01月12日
要約：

【課題】 本発明の目的は、X線検出の測定感度を向上しつつ、X線CT装置による撮影画像の品質向上が可能なX線CT装置及びX線CT装置による検出方法を提供することにある。【解決手段】 被試験体を透過したX線を検出するX線センサと、前記X線センサの出力信号を処理するX線センサ信号処理回路とを備え、 前記X線センサを、分極効果を有する半導体センサとし、 前記X線センサに順方向のバイアス電圧をかける順方向バイアス手段を設けたことを特徴とするX線CT装置。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

被試験体を透過したX線を検出するX線センサと、前記X線センサの出力信号を処理するX線センサ信号処理回路とを備え、 前記X線センサを、分極効果を有する半導体センサとし、 前記X線センサに順方向のバイアス電圧をかける順方向バイアス手段を設けたことを特徴とするX線CT装置。

IPC (1件)：

G01N 23/04

FI (1件)：

G01N23/04

Fターム (10件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA08 ,  2G001DA10 ,  2G001HA08 ,  2G001HA14 ,  2G001KA03

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 半導体に基づくX線検出装置
  公報種別：公表公報   出願番号：特願平9-509915   出願人：コミツサリアタレネルジーアトミーク, ソシエテソフラデイール

審査官引用 (2件)

• 放射線検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-287952   出願人：株式会社島津製作所
• 直読式線量計
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-165849   出願人：トムソンアンドニールセンエレクトロニクスリミテッド