特許
J-GLOBAL ID：200903099590605125

画像形成装置用部品の表面粗さ評価方法及び評価システム並びに切削加工方法及び切削加工システム

発明者：
山崎 純一

山崎 純一 について


出願人/特許権者：
株式会社リコー

株式会社リコー について


代理人 (1件)： 池浦 敏明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-221511
公開番号（公開出願番号）：特開2004-061359
出願日： 2002年07月30日
公開日（公表日）： 2004年02月26日
要約：
【課題】電子写真感光体用基体等の画像形成装置用部品の表面粗さの測定において、測定対象面の局所的な変化や変異を感度良くかつ正確に把握可能にすること表面粗さ評価方法を提供する。【解決手段】画像形成装置用部品の表面の状態についてJIS B0601に定める断面曲線を求め、その断面曲線上の等間隔位置における表面粗さ方向の位置データー列の多重解像度解析を行い、少なくともその結果に基づいて表面粗さの状態を評価することを特徴とする画像形成装置用部品の表面粗さ評価方法。【選択図】 なし
請求項（抜粋）：
画像形成装置用部品の表面の状態についてJIS B0601に定める断面曲線を求め、その断面曲線上の等間隔位置における表面粗さ方向の位置データー列の多重解像度解析を行い、少なくともその結果に基づいて表面粗さの状態を評価することを特徴とする画像形成装置用部品の表面粗さ評価方法。
IPC (4件)：
G01B21/30 ,  G03G5/00 ,  G03G5/10 ,  G03G21/00
FI (4件)：
G01B21/30 102 ,  G03G5/00 101 ,  G03G5/10 B ,  G03G21/00
Fターム (13件)：
2F069AA60 ,  2F069BB40 ,  2F069JJ08 ,  2F069NN00 ,  2F069NN02 ,  2F069NN07 ,  2F069NN08 ,  2H068AA54 ,  2H068AA59 ,  2H068EA07 ,  2H068FA11 ,  2H134QA01 ,  2H134QA02
引用特許：
審査官引用 (3件)
引用文献：
審査官引用 (4件)
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