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J-GLOBAL ID：201002207623554208   整理番号：10A0732457

導波管挿入法を用いた誘電率測定における誤差の解析

Analysis of Errors in Permittivity Measurements Using the Waveguide-Penetration Method

著者 (2件)： KIK Alfred (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  NISHIKATA Atsuhiro (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
資料名： IEICE Transactions on Communications (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)  (IEICE Transactions on Communications (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E93-B  号： 7  ページ： 1697-1706  発行年： 2010年07月01日 
JST資料番号： L1369A  ISSN： 0916-8516  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 導波管挿入法は矩形導波管の広壁の中心に開けた一対の穴に円柱状物体片を通した誘電率の測定法である。物体の誘電率はSパラメータの測定から推定する。本稿では,導波管摂動法における誘電率の測定誤差の解析方式を示した。誤差の源を系統源とランダム源に分類した。サンプルと導波管の穴径,サンプル長の影響,および周囲温度の影響における系統誤差を調査して補正した。不完全TRL構成要素,VNA熱雑音,サンプル負荷,テストポートのケーブル曲がりのような可能性ランダム誤差源を解析して,これらのランダム誤差への影響を推定した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *方形導波管 ,  誘電率 ,  *誤差解析 ,  電気測定 ,  S行列 ,  *Sパラメータ ,  *誘電測定 ,  *数学 ,  *解析 ,  *誤差論
準シソーラス用語： く形導波管 ,  円柱棒 ,  *誘電特性測定

分類 (1件)： 誘電体測定技術・装置  (BM05020Q)

引用文献 (8件)：

• NICOLSON, A. M. Measurement of the intrinsic properties of materials by time-domain techniques. IEEE Trans. Instrum. Meas. 1970, IM-19, 11, 377-382
• WEIR, W. B. Automatic measurement of complex dielectric constant and permeability at microwave frequencies. Proc. IEEE. 1974, 62, 1, 33-36
• NISHIKATA, A. A swept-frequency measurement of complex permittivity and complex permeability of a columnar specimen inserted in a rectangular waveguide. IEEE Trans. Microw. Theory Tech. 2007, 55, 7, 1554-1567
• NISHIKATA, A. Scattering analysis for layered cylindrical object perpendicularly piercing the wider walls of a rectangular waveguide and its application to ε_r and μ_r measurement. IEEE Trans. Microw. Theory Tech. 2009, 57, 6, 1602-1611
• ENGEN, G. F. Thru-reflect-line : An improved technique for calibrating the dual six-port automatic network analyzer. IEEE Trans. Microw. Theory Tech. 1979, MTT-27, 12, 987-993

タイトルに関連する用語 (4件)： 導波管 ,  誘電率測定 ,  誤差 ,  解析