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J-GLOBAL ID：201002211061616008   整理番号：10A0612206

ミリ波CMOSデバイスモデリングに対する異なった長さの伝送線路を用いたディ-エンベッディング法

A De-Embedding Method Using Different-Length Transmission Lines for mm-Wave CMOS Device Modeling

著者 (7件)： TAKAYAMA Naoki (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  MATSUSHITA Kota (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  ITO Shogo (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  LI Ning (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  BUNSEN Keigo (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  OKADA Kenichi (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  MATSUZAWA Akira (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN)
資料名： IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)  (IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E93-C  号： 6  ページ： 812-819  発行年： 2010年06月01日 
JST資料番号： L1370A  ISSN： 0916-8524  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,ミリ波周波数でのオンチップSパラメータ測定に対するディ-エンベッディング法を提案した。提案した方法は,異なった長さを持つ2つの伝送線路のみを用いた。提案した方法において,2つの伝送線路から抽出した寄生素子モデルを,トランジスタ,キャパシタ,インダクタなどの他のタイプのDUTに対するディ-エンベッディングに対して用いることができた。実験結果により,異なった長さの伝送線路間の特性インピーダンスにおける誤差は,40GHz以上で0.7%以下であることを示した。抽出したパッドモデルもまた示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *EHF波 ,  モデリング ,  *伝送線路 ,  周波数 ,  超小形回路技術 ,  S行列 ,  トランジスタ ,  コンデンサ ,  インダクタ ,  特性インピーダンス ,  誤差 ,  *CMOS
準シソーラス用語： Sパラメータ ,  オンチップ ,  ミリ波 ,  寄生素子

分類 (2件)： 伝送線  (NC04030C) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

引用文献 (13件)：

• [1] A. Parsa and B. Razavi, “A 60GHz CMOS receiver using a 30GHz LO,” IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers, pp.190-191.606, Feb. 2008.
• [2] J.F. Buckwalter and J. Kim, “A 26dB-gain 100GHz Si/SiGe cascaded constructive-wave amplifier,” IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers, pp.488-489, Feb. 2009.
• [3] Y. Hamada, M. Tanomura, M. Ito, and K. Maruhashi, “A high gain 77GHz power amplifier operating at 0.7V based on 90nm CMOS technology,” IEEE Microwave and Wireless Components Letters, vol.19, no.5, pp.329-331, May 2009.
• [4] P.J.V. Wijnen, H.R. Claessen, and E.A. Wolsheimer, “A new straightforward calibration and correction procedure for “on-wafer” high frequency s-parameter measurements (45MHz-18GHz),” Proc. Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting, pp.70-73, Sept. 1987.
• [5] L.F. Tiemeijer, R.J. Havens, A.B.M. Jansman, and Y. Bouttement, “Comparison of the “pad-open-short” and “open-short-load” deembedding techniques for accurate on-wafer RF characterization of high-quality passives,” IEEE Trans. Microw. Theory Tech., vol.53, no.2, pp.723-729, Feb. 2005.

タイトルに関連する用語 (4件)： ミリ波 ,  CMOS ,  モデリング ,  伝送線路