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J-GLOBAL ID:201002219398686980   整理番号:10A1070069

時間飛行二次イオン質量分析法による分子表面の研究

Investigation of molecular surfaces with time-of-flight secondary ion mass spectrometry
著者 (6件):
資料名:
巻: 42  号: 10/11  ページ: 1593-1597  発行年: 2010年10月 
JST資料番号: E0709A  ISSN: 0142-2421  CODEN: SIANDQ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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比較的小さな蛋白質,リゾチーム,および5つのアミノ酸残基,Leu-エンケファリンおよびMet-エンケファリンを持つポリペプチドをモデル試料として使用し,クラスターイオン源C60+を用いた時間飛行二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)の影響を研究した。C60+を用いることによって,金属一次イオン源を用いるよりも蛋白質およびポリペプチドの評価に対してフラグメントイオンの検出がより有用であり,C60+を用いた場合でさえも,二次イオンが生成されながら基体成分との再結合が発生することが示された。再結合はポリペプチドあるいは蛋白質と関連する特異ピークの同定をしばしば困難にするため,再結合を防ぐ測定条件を研究すべきである。さらに,将来は再結合しないでフラグメントイオンを得るためにより大きなあるいは異なるクラスターイオン源が必要であることも示した。
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分類 (2件):
分類
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有機化合物の物理分析  ,  蛋白質・ペプチド一般 
タイトルに関連する用語 (4件):
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