文献

J-GLOBAL ID：201002255340164106   整理番号：10A0684362

格子間型酸化物イオン伝導体のミリングによる欠陥構造変化とその低温熱容量への影響

Variation of Defect Structure of Interstitial-Type Oxide Ion Conductors Due to Milling and Its Effects on the Low-Temperature Heat Capacity

著者 (5件)： 高井茂臣 (鳥取大 工) ,  江坂享男 (鳥取大 工) ,  東條壮男 (東京工大 応用セラミックス研) ,  川路均 (東京工大 応用セラミックス研) ,  阿竹徹 (東京工大 総合安全管理セ)
資料名： 熱測定  (Calorimetry and Thermal Analysis)
巻： 37  号： 3  ページ： 104-111  発行年： 2010年06月15日 
JST資料番号： Z0896A  ISSN： 0386-2615  CODEN： NESOD2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 格子間型酸化物イオン伝導体のミリングによる欠陥構造制御とその低温熱容量への影響に関する最近の研究を紹介した。焼結法で得られたLa置換PbWO₄は過剰な酸化物イオンを格子間サイトにもち,これにより高温で高い酸化物イオン伝導性を示すが,メカニカルアロイング(MA)法で得られた試料では格子間酸化物イオンを形成しない。焼結体の低温熱容量は100K付近でMA試料に比べてわずかに大きく,これはイオン伝導の熱励起と格子間イオンの存在による周囲への歪みによるものと考えられた。さらに焼結体をミリングすることにより,格子間酸化物イオンの消失と格子がやわらかくなる過程を,熱容量の観点から観測した。これらの欠陥構造とイオン伝導性について,中性子回折と粉末密度測定データとともに議論した。(著者抄録)

シソーラス用語： 格子間原子 ,  *導体 ,  構造 ,  *熱容量 ,  *タングステン酸塩 ,  *鉛化合物 ,  焼結 ,  *メカニカルアロイング ,  イオン伝導 ,  中性子回折 ,  密度 ,  固溶体 ,  X線回折 ,  過剰熱力学関数 ,  摩砕 ,  *格子欠陥 ,  *ランタン化合物 ,  *イオン伝導体 ,  タングステン酸鉛 ,  *改変
準シソーラス用語： 欠陥構造 ,  ボールミル処理

分類 (3件)： 固体中の拡散一般  (BL06021L) ,  化合物の化学熱力学(純物質)  (CB02023O) ,  その他の無機化合物の格子欠陥  (BK12050B)

引用文献 (27件)：

• WAGNER, C. Naturwissenschaften. 1943, 31, 265
• TAKAI, S. J. Ceram. Soc. Jpn. 2007, 115, 780
• GERHARDT-ANDERSON, R. Solid State Ionics. 1983, 9/10, 931
• SATA, N. Nature. 2000, 408, 946
• F. S. ガラッソー. 図解ファインセラミックスの結晶化学. 1984

タイトルに関連する用語 (6件)： 格子 ,  酸化物イオン伝導体 ,  ミリング ,  欠陥構造 ,  低温 ,  熱容量