SHINNO H. について
Precision and Intelligence Lab., Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN について
YOSHIOKA H. について
Precision and Intelligence Lab., Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN について
GOKAN T. について
Precision and Intelligence Lab., Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN について
SAWANO H. について
Precision and Intelligence Lab., Tokyo Inst. of Technol., Yokohama, JPN について
CIRP Annals. Manufacturing Technology について
特徴抽出 について
プローブ について
形状測定 について
三次元測定 について
空間分解能 について
計測システム について
測定精度 について
三次元形状測定 について
三次元測定器 について
輪郭抽出 について
3次元プローブ について
ナノメータ について
長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器 について
空間分解能 について
開発 について
輪郭 について
スキャナ について